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產(chan)品詳細頁
凍幹粉(fen)針劑密(mi)封完(wan)整性(xing)測試儀
簡要描(miao)述:凍幹粉(fen)針劑密(mi)封完(wan)整性(xing)測試儀依據《ASTM F2338-13 包(bao)裝泄(xie)漏的(de)標(biao)準檢測方法-真空(kong)衰(shuai)減(jian)法》 標(biao)準研發(fa)。聯系山(shan)東(dong)普創工業(ye)科技有限(xian)公司(si)咨(zi)詢(xun)訂(ding)購吧(ba)
產(chan)品(pin)型(xing)號:MLT-V100
廠(chang)商(shang)性(xing)質(zhi):生(sheng)產(chan)廠(chang)家(jia)
更新(xin)時間(jian):2025-09-15
訪(fang) 問 量(liang):1478
產品介紹(shao)


凍幹粉(fen)針劑密(mi)封完(wan)整性(xing)測試儀
產(chan)品簡介
MLT系(xi)列(lie)微泄(xie)漏無(wu)損密(mi)封測試儀依據《ASTM F2338-2013 包(bao)裝泄(xie)漏的(de)標(biao)準檢測方法-真空(kong)衰(shuai)減(jian)法》標(biao)準研發(fa)。適(shi)用於預充(chong)式(shi) 註射器(qi)、水(shui)針及(ji)粉(fen)針瓶(玻(bo)璃/塑料)、灌(guan)裝壓(ya)蓋(gai)瓶、奶(nai)粉(fen)罐(guan)、其他硬質(zhi)包(bao)裝容(rong)器(qi)、電(dian)器(qi)元(yuan)件(jian)等試(shi)樣(yang)的無損正(zheng)、負(fu)壓(ya)的微(wei)泄漏測試。G精度(du)CCIT測試技術(shu)能夠檢測到微型(xing)小孔的泄(xie)漏。本(ben)產品(pin)采用先(xian) 進(jin)的設(she)計(ji)和(he)嚴謹、科學的計算(suan)方法確保(bao)了(le)其快速(su)測試和高準確度(du)及(ji)高(gao)穩(wen)定性(xing)。亦可(ke)滿足(zu)用戶(hu)的非(fei)標(biao)準(軟(ruan)件(jian)或(huo)測試夾(jia)具)定制(zhi)。
執(zhi)行(xing)標(biao)準
《ASTM F2338-13 包(bao)裝泄(xie)漏的(de)標(biao)準檢測方法-真空(kong)衰(shuai)減(jian)法》
《USP1207美國藥(yao)典(dian)標(biao)準 》
《藥品GMP指南——無菌(jun)藥品(pin)》 11.1密(mi)封完(wan)整性(xing)測試
《中國藥(yao)典(dian)》 2020年(nian)版四部(bu) 微(wei)生(sheng)物(wu)檢查(zha)法
《化(hua)學藥品註射劑包(bao)裝系(xi)統(tong)密(mi)封性(xing)研究(jiu)技術(shu)指(zhi)南(試行(xing))》
《YYT 0681.18-2020 無菌(jun)醫(yi)療器(qi)械(xie)包(bao)裝試(shi)驗(yan)方法D18部分:用真(zhen)空(kong)衰(shuai)減(jian)法無損檢驗(yan)包(bao)裝泄(xie)漏》
技術(shu)特征(zheng)
內置10吋觸摸屏電(dian)腦 與(yu)外(wai)置電(dian)腦可(ke)選;
可(ke)顯示(shi)泄(xie)漏孔(kong)徑(≥1μm )及(ji)泄(xie)漏量(liang) ;
測試腔(qiang)與(yu)主機(ji)為(wei)分體(ti)布(bu)局,壹(yi)套(tao)測試腔(qiang)適(shi)用5種(zhong)以(yi)上(shang)規(gui)格試樣(yang);
測試腔(qiang)為(wei)鋁(lv)合(he)金或(huo)不(bu)銹(xiu)鋼制(zhi)造,氣動(dong)夾(jia)持;
內置流量(liang)計,壹鍵完(wan)成(cheng)流量(liang)校(xiao)準;
具備(bei)零(ling)點(dian)、漏孔(kong)、流量(liang)3種(zhong)校(xiao)準方式(shi);
測試結果(guo)具備(bei)壓(ya)力衰(shuai)減(jian)、泄漏孔(kong)徑、泄(xie)漏流(liu)量(liang)三(san)種(zhong)判斷(duan)模(mo)式(shi)
真空(kong)分辨(bian)率(lv)≤1pa/0.01mbar/0.0001psi
具備(bei)( kpa/mbar/pa/psi )等(deng)測試單位(wei)轉(zhuan)換
可(ke)檢測西(xi)林(lin)瓶(ping),輸(shu)液(ye)袋(dai),隱(yin)形(xing)眼鏡(jing)、奶(nai)粉(fen)罐(guan),電(dian)子(zi)配件(jian)等各(ge)種(zhong)軟(ruan)、硬試樣(yang)的正負(fu)壓(ya)力衰(shuai)減(jian)測試;
技術(shu)參(can)數(shu)
測試方法 真空(kong)衰(shuai)減(jian)法/壓(ya)力衰(shuai)減(jian)法
測控技術(shu) 微(wei)電(dian)腦,雙傳感(gan)器(qi)測試技術(shu)
真(zhen)空(kong)方(fang)式(shi) 真空(kong)泵(beng)
正壓(ya)方式(shi) 外(wai)接氣源(yuan)
測試單位(wei) kPa/mbar/psi/Pa
分辨(bian)率(lv) 0.1Pa
測試範圍 -99~400kPa
測量(liang)範圍 ≥0.01ccm (約1μm )
測試精度(du) ±0.3μm (<3μm )
主控芯(xin)片(pian) STM微(wei)電(dian)腦芯(xin)片(pian)
采集頻(pin)率(lv) 50~200Hz
操控方式(shi) 10寸液(ye)晶觸摸屏
外(wai)形(xing)尺寸 340(L)×480(W)×320(H)mm
操控系統(tong) Windows系統
凍幹粉(fen)針劑密(mi)封完(wan)整性(xing)測試儀



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