卡(ka)式瓶(ping)微泄漏密封測(ce)試(shi)儀 普創科(ke)技(ji)廠(chang)家(jia)

產品(pin)介紹(shao)

卡式(shi)瓶微(wei)泄漏密封測(ce)試(shi)儀 普創科(ke)技(ji)廠(chang)家(jia)

產品(pin)簡介(jie)

MLT-V100（T）微泄(xie)漏(lou)無損密(mi)封測(ce)試(shi)儀依據(ju)《ASTM F2338-13 包(bao)裝泄(xie)漏的(de)標準(zhun)檢測方(fang)法-真空衰(shuai)減(jian)法》 標準(zhun)研發(fa)。專(zhuan)業適(shi)用於各種(zhong)空(kong)的/預充式(shi)註射(she)器、水(shui)針及(ji)粉(fen)針瓶（玻(bo)璃(li)/塑料(liao)）、灌裝壓(ya)蓋(gai)瓶(ping)、其(qi)他(ta)硬(ying)質包(bao)裝容器、電(dian)器元(yuan)件(jian)等(deng)試樣的(de)無(wu)損正、負(fu)壓(ya)的(de)微(wei)泄(xie)漏(lou)測試。本產(chan)品采用*的設(she)計和(he)嚴(yan)謹(jin)、科學的計(ji)算方(fang)法保(bao)證了其快速(su)測(ce)試和(he)高(gao)準(zhun)確(que)度(du)及(ji)高(gao)穩定(ding)性。亦可(ke)滿足(zu)用戶的(de)非(fei)標準(zhun)（軟(ruan)件(jian)或測(ce)試(shi)夾(jia)具(ju)）定(ding)制。

產品(pin)特(te)點(dian)

● 智(zhi)能全(quan)自(zi)動、功(gong)能齊全(quan)、高(gao)精(jing)度(du)、高效(xiao)率(lv)

● 可(ke)選配(pei)正、負(fu)壓(ya)測(ce)試(shi)原(yuan)理

● 7寸(cun)觸(chu)摸(mo)屏(ping)、友好人機(ji)工(gong)效(xiao)

● 符合(he)“GMP"所有要(yao)求

● 多種(zhong)通(tong)訊模式，便(bian)於數(shu)據(ju)管理、導出

● 自(zi)帶打(da)印(yin)機(ji)、結(jie)果長(chang)期保(bao)存(cun)

● 可(ke)選兩(liang)種抽真空原(yuan)理方(fang)便用戶選擇(ze)

● 支持(chi)功(gong)能擴展和(he)非(fei)標夾(jia)具(ju)定(ding)制

應(ying)用領域(yu)

各種(zhong)空(kong)的/預充式(shi)註射(she)器、水(shui)針及(ji)粉(fen)針瓶（玻(bo)璃(li)/塑料(liao)）、灌裝壓(ya)蓋(gai)瓶(ping)、其(qi)他(ta)硬(ying)質包(bao)裝容器、電(dian)器元(yuan)件(jian)

執(zhi)行標準(zhun)

《ASTM F2338-13 包(bao)裝泄(xie)漏的(de)標準(zhun)檢測方(fang)法-真空衰(shuai)減(jian)法》    

《USP1207美國(guo)藥典標準(zhun) 》

《藥品GMP指(zhi)南(nan)——無菌(jun)藥品》  11.1密(mi)封完(wan)整(zheng)性(xing)測(ce)試

《中國藥典》 2020年(nian)版(ban)四部(bu) 微(wei)生物(wu)檢查法

《中國藥典》2025年(nian)版(ban)

《化(hua)學藥品註射(she)劑(ji)包(bao)裝系(xi)統密(mi)封性(xing)研究技(ji)術(shu)指(zhi)南(nan)(試行(xing))》

《YYT 0681.18-2020 無菌(jun)醫(yi)療器械(xie)包裝試(shi)驗方(fang)法第18部分(fen)：用真空衰(shuai)減(jian)法無損(sun)檢驗包裝泄(xie)漏》

技(ji)術(shu)參數(shu)

測(ce)試方(fang)法真空衰(shuai)減(jian)法/壓(ya)力(li)衰(shuai)減(jian)法(fa)

測控(kong)技(ji)術(shu)微(wei)電(dian)腦，雙(shuang)傳感(gan)器測(ce)試技(ji)術(shu)

真空方(fang)式真空泵

正壓(ya)方(fang)式外接(jie)氣源(yuan)

測(ce)試單(dan)位kPa/mbar/psi/Pa

分(fen)辨(bian)率(lv)0.1Pa

測(ce)試(shi)範圍-99~400kPa

測(ce)量(liang)範圍≥0.01ccm (約1μm )

測(ce)試精(jing)度(du)±0.3μm (＜3μm )

主(zhu)控(kong)芯(xin)片STM微(wei)電(dian)腦芯(xin)片

采集頻率(lv)50~200Hz

操(cao)控(kong)方(fang)式10寸(cun)液(ye)晶(jing)觸摸(mo)屏(ping)

操(cao)控(kong)系統(tong)Windows系統(tong)

卡式瓶(ping)微泄(xie)漏密封測(ce)試(shi)儀 普創科(ke)技(ji)廠(chang)家(jia)