薄膜(mo)摩(mo)擦(ca)系(xi)數測(ce)試儀試驗步(bu)驟

　　1將(jiang)壹個(ge)試樣(yang)的(de)試驗表(biao)面向(xiang)上(shang)，平整(zheng)地(di)固(gu)定(ding)在水(shui)平試驗臺上(shang)。試樣(yang)與試驗臺的(de)長(chang)度(du)方向應平行(xing)。

　　2將另(ling)壹試樣(yang)的(de)試驗表(biao)面向(xiang)下(xia)，包(bao)住滑塊(kuai)，用膠(jiao)帶在(zai)滑塊(kuai)前(qian)沿(yan)和(he)上(shang)表(biao)面固(gu)定(ding)試樣(yang)。

　　3如試樣(yang)較(jiao)厚或剛(gang)性(xing)較(jiao)大，有可(ke)能(neng)產(chan)生(sheng)彎曲(qu)力(li)矩(ju)使壓(ya)力(li)分(fen)布不勻(yun)時(shi)，應(ying)使(shi)用2所規定(ding)的(de)63 mm×63 mm試樣(yang)。在滑塊(kuai)底面和(he)試樣(yang)非試驗表(biao)面間(jian)用(yong)雙面膠(jiao)帶固(gu)定(ding)試樣(yang)。

　　4固(gu)定(ding)好的(de)兩(liang)試樣(yang)均應平(ping)整、無(wu)皺紋(wen)和可(ke)能(neng)改變(bian)摩(mo)擦(ca)性(xing)質(zhi)的(de)傷痕(hen)。試樣(yang)邊(bian)緣應(ying)圓滑。試樣(yang)試驗表(biao)面應(ying)無(wu)灰(hui)塵、指紋(wen)和任(ren)何可能(neng)改變(bian)表(biao)面性(xing)質(zhi)的(de)外(wai)來物質(zhi)。

　　5將(jiang)固(gu)定(ding)有試樣(yang)的(de)滑(hua)塊(kuai)無(wu)沖(chong)擊地(di)放(fang)在*個(ge)試樣(yang)中(zhong)央，並(bing)使兩試樣(yang)的(de)試驗方向與滑動(dong)方向平行(xing)且測(ce)力(li)系(xi)統恰好(hao)不受力(li)。

　　6兩(liang)試樣(yang)接觸後(hou)保持15s。啟動(dong)儀(yi)器(qi)使(shi)兩(liang)試樣(yang)相(xiang)對(dui)移動。

　　7力(li)的(de)*個(ge)峰(feng)值(zhi)為靜(jing)摩(mo)擦(ca)力Fs。

　　8兩(liang)試樣(yang)相(xiang)對(dui)移動6 cm內(nei)的(de)力(li)的(de)平(ping)均(jun)值(zhi)（不包(bao)括靜(jing)摩(mo)擦(ca)力）為動(dong)摩(mo)擦(ca)力Fd。

　　9如(ru)在(zai)靜(jing)摩(mo)擦(ca)力之(zhi)後(hou)出(chu)現力值(zhi)振蕩(dang)（5．6條(tiao)中(zhong)滑粘(zhan)情(qing)況(kuang)），則(ze)不能(neng)測(ce)量(liang)動(dong)摩(mo)擦(ca)力。此(ci)時(shi)應(ying)取(qu)消(xiao)滑(hua)塊(kuai)和負(fu)荷傳感器(qi)間(jian)的(de)彈(dan)簧，單(dan)獨(du)測(ce)量(liang)動(dong)摩(mo)擦(ca)力。由(you)於慣(guan)性(xing)誤差，這種(zhong)測(ce)量(liang)不適用(yong)於靜(jing)摩(mo)擦(ca)力。