預灌封(feng)註(zhu)射器真(zhen)空(kong)衰減(jian)密封(feng)試(shi)驗(yan)儀

產品(pin)介(jie)紹

預灌封(feng)註(zhu)射器真(zhen)空(kong)衰減(jian)密封(feng)試(shi)驗(yan)儀

產(chan)品(pin)簡介

MLT系(xi)列(lie)微泄(xie)漏無(wu)損密封(feng)測(ce)試儀(yi)依據《ASTM F2338-2013 包裝泄(xie)漏(lou)的標(biao)準檢測方(fang)法-真(zhen)空(kong)衰減(jian)法》標(biao)準研發。專(zhuan)業(ye)適用(yong)於各種(zhong)空(kong)的/預充式 註射器、水(shui)針(zhen)及粉(fen)針(zhen)瓶(ping)(玻(bo)璃(li)/塑料)、灌裝壓(ya)蓋(gai)瓶(ping)、奶(nai)粉(fen)罐(guan)、其他(ta)硬質(zhi)包裝容(rong)器、電(dian)器元件(jian)等試(shi)樣的無損(sun)正、負壓(ya)的微泄(xie)漏(lou)測試。高(gao)精(jing)度(du)CCIT測(ce)試技術(shu)能(neng)夠(gou)檢(jian)測(ce)到(dao)微(wei)型小孔(kong)的泄漏(lou)。本(ben)產品采(cai)用(yong)先(xian) 進的設計和(he)嚴(yan)謹、科(ke)學的計算(suan)方法保(bao)證(zheng)了(le)其快速測(ce)試和高(gao)準確度及高(gao)穩(wen)定性。亦(yi)可滿(man)足用(yong)戶(hu)的非標(biao)準(軟件(jian)或(huo)測試夾(jia)具)定制。

執行(xing)標(biao)準

《ASTM F2338-13 包裝泄(xie)漏(lou)的標(biao)準檢測方(fang)法-真(zhen)空(kong)衰減(jian)法》    

《USP1207美國(guo)藥典(dian)標(biao)準 》

《藥品GMP指南(nan)——無菌藥品》  11.1密封(feng)完(wan)整性測(ce)試

《中國(guo)藥典(dian)》 2020年(nian)版(ban)四(si)部 微生(sheng)物檢查(zha)法

《化(hua)學藥品註(zhu)射劑包裝系(xi)統密封(feng)性(xing)研究(jiu)技術(shu)指南(nan)(試行(xing))》

《YYT 0681.18-2020 無(wu)菌(jun)醫療(liao)器械(xie)包裝試(shi)驗(yan)方法第(di)18部(bu)分(fen)：用(yong)真空(kong)衰減(jian)法無(wu)損檢(jian)驗(yan)包裝泄(xie)漏(lou)》

技術(shu)優勢

內(nei)置(zhi)10吋(cun)觸(chu)摸屏電(dian)腦(nao) 與外(wai)置電(dian)腦(nao)可選；

可(ke)精(jing)確顯示(shi)泄(xie)漏孔(kong)徑(≥1μm )及(ji)泄漏量  ；

測試(shi)腔與主(zhu)機(ji)為(wei)分體布(bu)局，壹套測試腔(qiang)適(shi)用(yong)5種以(yi)上(shang)規(gui)格(ge)試(shi)樣；

測試腔為(wei)鋁(lv)合(he)金(jin)或(huo)不(bu)銹鋼(gang)制造(zao)，氣(qi)動(dong)夾持(chi)；

內(nei)置(zhi)流量計，壹(yi)鍵完(wan)成(cheng)流量校準；

具備(bei)零點、漏孔(kong)、流量3種校(xiao)準方式；

測試結(jie)果(guo)具備(bei)壓(ya)力衰(shuai)減(jian)、泄(xie)漏(lou)孔(kong)徑、泄(xie)漏流量三種(zhong)判(pan)斷模式

真空(kong)分辨率(lv)≤1pa/0.01mbar/0.0001psi

具備(bei)( kpa/mbar/pa/psi )等測(ce)試單(dan)位(wei)轉(zhuan)換(huan)

可(ke)檢測(ce)西(xi)林(lin)瓶(ping)，輸(shu)液(ye)袋(dai)，隱(yin)形眼(yan)鏡、奶(nai)粉(fen)罐(guan)，電(dian)子(zi)配件(jian)等各種(zhong)軟、硬(ying)試(shi)樣的正負壓(ya)力衰(shuai)減(jian)測(ce)試(shi)；

技(ji)術(shu)參數

測試方(fang)法真(zhen)空(kong)衰減(jian)法/壓(ya)力衰(shuai)減(jian)法

測(ce)控技(ji)術(shu)微電(dian)腦(nao)，雙傳感(gan)器測(ce)試(shi)技(ji)術(shu)

真空(kong)方式真空(kong)泵(beng)

正壓(ya)方式外(wai)接氣源(yuan)

測(ce)試(shi)單(dan)位(wei)kPa/mbar/psi/Pa

分(fen)辨(bian)率(lv)0.1Pa

測試(shi)範(fan)圍(wei)-99~400kPa

測量範(fan)圍(wei)≥0.01ccm (約1μm )

測(ce)試精(jing)度±0.3μm (＜3μm )

主(zhu)控芯片STM微(wei)電(dian)腦(nao)芯片

采(cai)集頻率(lv)50~200Hz

操控(kong)方式10寸液晶(jing)觸(chu)摸屏

操控(kong)系(xi)統Windows系(xi)統

預(yu)灌封(feng)註(zhu)射器真(zhen)空(kong)衰減(jian)密封(feng)試(shi)驗(yan)儀