-
密封測(ce)試(shi)儀
- 不透水性(xing)測試儀
- 包裝泄漏(lou)測試(shi)儀
- 微生物(wu)入密封侵(qin)試驗(yan)儀
- 包裝完(wan)整(zheng)性測(ce)試(shi)儀
- 包裝脹破(po)試驗(yan)儀
- 玻璃瓶(ping)包(bao)裝密封試(shi)驗(yan)儀
- 軟包(bao)裝密封試(shi)驗(yan)儀
- 藥品包(bao)裝密封性(xing)測(ce)試儀
- 真空衰減法(fa)密封檢漏(lou)儀
- 微泄漏(lou)無(wu)損密封測(ce)試(shi)儀
- 水性筆(bi)泄漏(lou)密封測(ce)試(shi)儀
- 正負壓(ya)壹體(ti)密封測(ce)試(shi)儀
- 泄漏(lou)與密封強(qiang)度測試儀
- 正壓(ya)密封測(ce)試(shi)儀
- 負壓(ya)密封測(ce)試(shi)儀
- 無(wu)損密封測(ce)試(shi)儀
查(zha)看(kan)全(quan)部(bu) >>
妳(ni)的位(wei)置(zhi):首頁 > 產品(pin)展示(shi) > 密封測(ce)試(shi)儀 > 真空衰減法(fa)密封檢漏(lou)儀 >西林瓶(ping)真空衰減法(fa)密封性(xing)測(ce)試儀
產品(pin)詳細頁
西林(lin)瓶真空衰減法(fa)密封性(xing)測(ce)試儀
簡(jian)要描(miao)述(shu):西林(lin)瓶真空衰減法(fa)密封性(xing)測(ce)試儀,依據《ASTM F2338-13 包裝泄漏(lou)的標準(zhun)檢測(ce)方(fang)法(fa)-真空衰減法(fa)》 標(biao)準(zhun)研發。聯系(xi)山(shan)東(dong)普創工(gong)業(ye)科技(ji)有限(xian)公司咨詢訂購吧
產品(pin)型號:MLT-V100
廠(chang)商性(xing)質:生產廠(chang)家
更新時間:2025-09-14
訪(fang) 問 量:1353
產品(pin)介紹


西林瓶(ping)真空衰減法(fa)密封性(xing)測(ce)試儀
MLT系列(lie)微泄漏(lou)無(wu)損密封測(ce)試(shi)儀依據《ASTM F2338-2013 包裝泄漏(lou)的標準(zhun)檢測(ce)方(fang)法(fa)-真空衰減法(fa)》標(biao)準(zhun)研發。適(shi)用於預(yu)充式 註射器(qi)、水針(zhen)及(ji)粉針(zhen)瓶(玻(bo)璃/塑料)、灌(guan)裝壓(ya)蓋瓶(ping)、奶(nai)粉罐(guan)、其他(ta)硬(ying)質包裝容器(qi)、電(dian)器(qi)元件(jian)等試(shi)樣的無(wu)損正、負壓(ya)的微泄漏(lou)測試(shi)。G精度CCIT測試技術(shu)能夠(gou)檢測(ce)到(dao)微型小孔的泄漏(lou)。本產品(pin)采用先 進(jin)的設(she)計(ji)和嚴(yan)謹、科(ke)學(xue)的計(ji)算方(fang)法(fa)確(que)保(bao)了(le)其(qi)快(kuai)速(su)測(ce)試和高準(zhun)確度及(ji)高穩定性(xing)。亦可滿足(zu)用(yong)戶的非標準(zhun)(軟件(jian)或測(ce)試(shi)夾具)定制(zhi)。
執行標(biao)準(zhun)
《ASTM F2338-13 包裝泄漏(lou)的標準(zhun)檢測(ce)方(fang)法(fa)-真空衰減法(fa)》
《USP1207美(mei)國藥典標準(zhun) 》
《藥品GMP指(zhi)南(nan)——無(wu)菌(jun)藥品》 11.1密封完(wan)整(zheng)性測(ce)試(shi)
《中(zhong)國藥典》 2020年版四部 微(wei)生物(wu)檢查(zha)法(fa)
《化(hua)學(xue)藥品註(zhu)射(she)劑包(bao)裝系統密封性(xing)研(yan)究技(ji)術(shu)指(zhi)南(試行)》
《YYT 0681.18-2020 無(wu)菌(jun)醫(yi)療(liao)器(qi)械包裝試驗(yan)方法(fa)D18部(bu)分(fen):用真空衰減法(fa)無(wu)損檢驗(yan)包裝泄漏(lou)》
技術(shu)特征(zheng)
內(nei)置(zhi)10吋(cun)觸(chu)摸(mo)屏(ping)電(dian)腦 與(yu)外(wai)置(zhi)電(dian)腦可選(xuan);
可顯示(shi)泄漏(lou)孔徑(jing)(≥1μm )及(ji)泄漏(lou)量 ;
測(ce)試(shi)腔與(yu)主機(ji)為分(fen)體布(bu)局(ju),壹套測試腔適(shi)用5種以上規格(ge)試樣;
測(ce)試腔為(wei)鋁合(he)金(jin)或不(bu)銹鋼制(zhi)造,氣(qi)動夾持(chi);
內(nei)置(zhi)流量計(ji),壹鍵(jian)完(wan)成(cheng)流量校(xiao)準(zhun);
具備零(ling)點(dian)、漏孔、流量3種校(xiao)準(zhun)方式;
測試結果(guo)具(ju)備壓(ya)力衰減、泄漏(lou)孔徑(jing)、泄漏(lou)流量三(san)種判斷(duan)模式
真空分(fen)辨率(lv)≤1pa/0.01mbar/0.0001psi
具(ju)備( kpa/mbar/pa/psi )等測(ce)試單(dan)位(wei)轉換
可檢測(ce)西(xi)林瓶(ping),輸(shu)液袋(dai),隱形眼鏡(jing)、奶粉罐,電(dian)子配(pei)件等各種軟、硬(ying)試(shi)樣的正負壓(ya)力衰減測(ce)試(shi);
技術(shu)參數
測試方(fang)法(fa) 真空衰減法(fa)/壓(ya)力衰減法(fa)
測(ce)控技術(shu) 微(wei)電(dian)腦,雙傳感(gan)器(qi)測試(shi)技術(shu)
真空方式 真空泵
正壓(ya)方式 外(wai)接(jie)氣(qi)源
測試(shi)單(dan)位(wei) kPa/mbar/psi/Pa
分(fen)辨率(lv) 0.1Pa
測(ce)試範(fan)圍 -99~400kPa
測量(liang)範(fan)圍 ≥0.01ccm (約1μm )
測(ce)試(shi)精度 ±0.3μm (<3μm )
主控芯片(pian) STM微(wei)電(dian)腦芯片(pian)
采(cai)集頻率(lv) 50~200Hz
操控(kong)方(fang)式 10寸(cun)液(ye)晶(jing)觸(chu)摸(mo)屏
外(wai)形尺(chi)寸(cun) 340(L)×480(W)×320(H)mm
操控(kong)系(xi)統 Windows系(xi)統
西(xi)林(lin)瓶真空衰減法(fa)密封性(xing)測(ce)試儀





在線(xian)交(jiao)流