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產品(pin)詳細頁
真(zhen)空衰減(jian)法檢漏儀
簡(jian)要(yao)描述:MLT-V100 型(xing)微(wei)泄漏無(wu)損密封測(ce)試儀,真(zhen)空(kong)衰減(jian)法檢漏儀,依據《ASTM F2338-13 包裝泄漏的標(biao)準(zhun)檢測(ce)方(fang)法-真空(kong)衰減(jian)法》 標準(zhun)研發。聯系(xi)山(shan)東(dong)普(pu)創(chuang)工(gong)業(ye)科技(ji)有限(xian)公司(si)咨(zi)詢(xun)訂購(gou)吧
產品(pin)型(xing)號(hao):MLT-V100
廠(chang)商性(xing)質:生產廠家
更(geng)新時(shi)間:2025-09-14
訪 問(wen) 量(liang):1328
產品(pin)介紹(shao)


真(zhen)空(kong)衰減(jian)法檢漏儀
產品(pin)簡介(jie)
MLT系列微(wei)泄漏無(wu)損密封測(ce)試儀依據《ASTM F2338-2013 包裝泄漏的標(biao)準(zhun)檢測(ce)方(fang)法-真空(kong)衰減(jian)法》標準(zhun)研發。適(shi)用(yong)於預充式(shi) 註(zhu)射器(qi)、水(shui)針(zhen)及(ji)粉(fen)針(zhen)瓶(玻璃(li)/塑(su)料)、灌(guan)裝(zhuang)壓(ya)蓋(gai)瓶、奶粉(fen)罐、其(qi)他(ta)硬(ying)質包裝(zhuang)容器(qi)、電器元件(jian)等試樣(yang)的無(wu)損正、負壓(ya)的(de)微(wei)泄漏測(ce)試。G精度CCIT測(ce)試技術(shu)能夠檢測(ce)到微(wei)型(xing)小孔的(de)泄漏。本產品(pin)采(cai)用(yong)先 進的(de)設計和(he)嚴(yan)謹、科學的計(ji)算(suan)方(fang)法確保(bao)了(le)其(qi)快速測(ce)試和高(gao)準(zhun)確(que)度及(ji)高(gao)穩定性(xing)。亦(yi)可(ke)滿(man)足(zu)用(yong)戶的(de)非標準(zhun)(軟(ruan)件(jian)或測(ce)試夾具(ju))定(ding)制(zhi)。
執行標準
《ASTM F2338-13 包裝泄漏的標(biao)準(zhun)檢測(ce)方(fang)法-真空(kong)衰減(jian)法》
《USP1207美國(guo)藥(yao)典標(biao)準(zhun) 》
《藥(yao)品(pin)GMP指(zhi)南——無(wu)菌藥(yao)品(pin)》 11.1密封完(wan)整(zheng)性(xing)測(ce)試
《中國(guo)藥(yao)典》 2020年(nian)版四部(bu) 微(wei)生物(wu)檢查法
《化學(xue)藥(yao)品(pin)註射劑(ji)包裝系(xi)統密(mi)封性(xing)研究技術指(zhi)南(試行)》
《YYT 0681.18-2020 無(wu)菌醫療(liao)器(qi)械(xie)包裝試(shi)驗(yan)方(fang)法D18部(bu)分(fen):用(yong)真空(kong)衰減(jian)法無(wu)損檢驗(yan)包(bao)裝泄漏》
技術(shu)特征(zheng)
內(nei)置10吋(cun)觸摸屏電(dian)腦 與外置電(dian)腦可(ke)選(xuan);
可(ke)顯(xian)示泄漏孔徑(jing)(≥1μm )及(ji)泄漏量(liang) ;
測(ce)試腔與(yu)主機(ji)為(wei)分(fen)體(ti)布局(ju),壹(yi)套測(ce)試腔適(shi)用(yong)5種以(yi)上(shang)規(gui)格(ge)試樣(yang);
測(ce)試腔為(wei)鋁合金或不(bu)銹(xiu)鋼制(zhi)造(zao),氣動(dong)夾(jia)持(chi);
內(nei)置流量(liang)計(ji),壹(yi)鍵完成流量(liang)校(xiao)準(zhun);
具(ju)備(bei)零點(dian)、漏孔、流(liu)量(liang)3種(zhong)校(xiao)準(zhun)方(fang)式(shi);
測(ce)試結果具備壓(ya)力衰減(jian)、泄漏孔徑(jing)、泄漏流量(liang)三(san)種(zhong)判(pan)斷(duan)模式
真空(kong)分(fen)辨率(lv)≤1pa/0.01mbar/0.0001psi
具(ju)備(bei)( kpa/mbar/pa/psi )等測(ce)試單位(wei)轉(zhuan)換
可(ke)檢(jian)測(ce)西(xi)林瓶,輸液(ye)袋,隱(yin)形(xing)眼鏡(jing)、奶(nai)粉罐(guan),電子配件(jian)等各種軟(ruan)、硬(ying)試(shi)樣(yang)的正負壓(ya)力衰減(jian)測(ce)試;
技術(shu)參(can)數
測(ce)試方(fang)法 真空(kong)衰減(jian)法/壓(ya)力衰減(jian)法
測(ce)控技術(shu) 微(wei)電腦,雙傳感(gan)器(qi)測(ce)試技術(shu)
真(zhen)空(kong)方(fang)式(shi) 真(zhen)空(kong)泵
正壓(ya)方(fang)式(shi) 外接(jie)氣源(yuan)
測(ce)試單位(wei) kPa/mbar/psi/Pa
分(fen)辨率(lv) 0.1Pa
測(ce)試範圍(wei) -99~400kPa
測(ce)量(liang)範圍(wei) ≥0.01ccm (約(yue)1μm )
測(ce)試精度 ±0.3μm (<3μm )
主控芯片 STM微(wei)電腦芯片
采(cai)集頻(pin)率(lv) 50~200Hz
操(cao)控(kong)方(fang)式(shi) 10寸(cun)液(ye)晶觸摸屏
外形(xing)尺寸 340(L)×480(W)×320(H)mm
操(cao)控系統 Windows系(xi)統
真(zhen)空(kong)衰減(jian)法檢漏儀



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