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密封測試(shi)儀(yi)
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產品詳細(xi)頁
鈉鈣玻(bo)璃(li)管制(zhi)註(zhu)射劑瓶無(wu)損密封測試(shi)儀(yi)
簡要(yao)描(miao)述(shu):MLT-V100(T)鈉(na)鈣玻(bo)璃(li)管制(zhi)註(zhu)射劑瓶無(wu)損密封測試(shi)儀(yi)根據《ASTM F2338-13 包裝泄(xie)漏的標(biao)準(zhun)檢(jian)測(ce)方(fang)法(fa)-真(zhen)空(kong)衰(shuai)減(jian)法(fa)》 標準(zhun)研發(fa)。專(zhuan)業適用(yong)於各種(zhong)空(kong)的/預充式註(zhu)射器(qi)、水針(zhen)及粉針(zhen)瓶(玻(bo)璃(li)/塑(su)料(liao))、灌(guan)裝壓(ya)蓋瓶、其(qi)他硬(ying)質包裝容器(qi)、電器(qi)元(yuan)件(jian)等(deng)試樣(yang)的無(wu)損正(zheng)、負(fu)壓(ya)的微(wei)泄(xie)漏測(ce)試。本(ben)產(chan)品采(cai)用(yong)*的設(she)計和(he)嚴謹、科(ke)學的計(ji)算方(fang)法(fa)保證(zheng)了其(qi)快速(su)測試(shi)和(he)高準(zhun)確(que)度(du)及高穩(wen)定(ding)性。亦(yi)可(ke)滿(man)足(zu)用(yong)戶(hu)的非標(biao)準(zhun)(軟(ruan)件(jian)或(huo)測試(shi)夾(jia)具)定(ding)制(zhi)。
產(chan)品型(xing)號(hao):MLT-V100(T)
廠商(shang)性質:生產(chan)廠家(jia)
更新(xin)時間(jian):2025-09-16
訪 問(wen) 量:1170
產(chan)品介紹(shao)
MLT-V100(T)鈉(na)鈣玻(bo)璃(li)管制(zhi)註(zhu)射劑瓶無(wu)損密封測試(shi)儀(yi)

產品簡介(jie)
MLT系(xi)列(lie)微(wei)泄(xie)漏無(wu)損密封測試(shi)儀(yi)依據《ASTM F2338-2013 包裝泄(xie)漏的標(biao)準(zhun)檢(jian)測(ce)方(fang)法(fa)-真(zhen)空(kong)衰(shuai)減(jian)法(fa)》標準(zhun)研發(fa)。專(zhuan)業適用(yong)於各種(zhong)空(kong)的/預充式 註(zhu)射器(qi)、水針(zhen)及粉針(zhen)瓶(玻(bo)璃(li)/塑(su)料(liao))、灌(guan)裝壓(ya)蓋瓶、奶(nai)粉罐(guan)、其(qi)他硬(ying)質包裝容器(qi)、電器(qi)元(yuan)件(jian)等(deng)試樣(yang)的無(wu)損正(zheng)、負(fu)壓(ya)的微(wei)泄(xie)漏測(ce)試。高精(jing)度(du)CCIT測試(shi)技術(shu)能夠檢(jian)測(ce)到微型(xing)小孔的泄(xie)漏。本(ben)產(chan)品采(cai)用(yong)先(xian) 進(jin)的設(she)計和(he)嚴謹、科(ke)學的計(ji)算方(fang)法(fa)保證(zheng)了其(qi)快速(su)測試(shi)和(he)高準(zhun)確(que)度(du)及高穩(wen)定(ding)性。亦(yi)可(ke)滿(man)足(zu)用(yong)戶(hu)的非標(biao)準(zhun)(軟(ruan)件(jian)或(huo)測試(shi)夾(jia)具)定(ding)制(zhi)。
執行標準(zhun)
《ASTM F2338-13 包裝泄(xie)漏的標(biao)準(zhun)檢(jian)測(ce)方(fang)法(fa)-真(zhen)空(kong)衰(shuai)減(jian)法(fa)》
《USP1207美國藥(yao)典標準(zhun) 》
《藥(yao)品GMP指(zhi)南(nan)——無(wu)菌藥(yao)品》 11.1密封完整性測(ce)試
《中(zhong)國藥(yao)典》 2020年(nian)版四(si)部 微生物(wu)檢(jian)查(zha)法(fa)
《化學藥(yao)品註射劑包裝系(xi)統(tong)密封性研究(jiu)技術(shu)指(zhi)南(nan)(試(shi)行)》
《YYT 0681.18-2020 無(wu)菌醫療器(qi)械包裝試驗方(fang)法(fa)第18部分:用(yong)真(zhen)空(kong)衰(shuai)減(jian)法(fa)無(wu)損檢(jian)驗(yan)包裝泄(xie)漏》
技術(shu)優勢
內(nei)置10吋(cun)觸摸屏(ping)電腦 與(yu)外置電(dian)腦可(ke)選;
可(ke)精(jing)確(que)顯示泄(xie)漏孔徑(≥1μm )及泄(xie)漏量 ;
測試(shi)腔(qiang)與(yu)主機為分(fen)體(ti)布局,壹(yi)套(tao)測試(shi)腔(qiang)適用(yong)5種(zhong)以(yi)上(shang)規(gui)格(ge)試樣(yang);
測試(shi)腔為鋁(lv)合金(jin)或(huo)不(bu)銹(xiu)鋼制(zhi)造(zao),氣(qi)動夾(jia)持;
內置流(liu)量計,壹(yi)鍵(jian)完成流量校準(zhun);
具備(bei)零(ling)點(dian)、漏孔、流量3種(zhong)校準(zhun)方(fang)式;
測(ce)試結果具備(bei)壓(ya)力(li)衰(shuai)減(jian)、泄(xie)漏孔徑、泄(xie)漏流(liu)量三種(zhong)判(pan)斷模式
真(zhen)空(kong)分(fen)辨(bian)率≤1pa/0.01mbar/0.0001psi
具備(bei)( kpa/mbar/pa/psi )等(deng)測試(shi)單(dan)位(wei)轉(zhuan)換(huan)
可(ke)檢(jian)測(ce)西(xi)林瓶,輸液(ye)袋,隱(yin)形眼鏡(jing)、奶(nai)粉罐(guan),電子(zi)配(pei)件等(deng)各種(zhong)軟(ruan)、硬(ying)試樣(yang)的正(zheng)負(fu)壓(ya)力(li)衰(shuai)減(jian)測試(shi);
技術(shu)參(can)數
測試(shi)方(fang)法(fa)真(zhen)空(kong)衰(shuai)減(jian)法(fa)/壓(ya)力(li)衰(shuai)減(jian)法(fa)
測控技術(shu)微電(dian)腦,雙傳感器(qi)測試(shi)技術(shu)
真(zhen)空(kong)方(fang)式真(zhen)空(kong)泵(beng)
正(zheng)壓(ya)方(fang)式外接(jie)氣源(yuan)
測試(shi)單位(wei)kPa/mbar/psi/Pa
分(fen)辨率0.1Pa
測試(shi)範(fan)圍(wei)-99~400kPa
測量範圍(wei)≥0.01ccm (約(yue)1μm )
測試(shi)精(jing)度(du)±0.3μm (<3μm )
主控芯(xin)片STM微(wei)電(dian)腦芯(xin)片
采(cai)集(ji)頻(pin)率50~200Hz
操控方(fang)式10寸液(ye)晶(jing)觸摸屏(ping)
操控系(xi)統(tong)Windows系(xi)統(tong)
MLT-V100(T)鈉(na)鈣(gai)玻(bo)璃(li)管制(zhi)註(zhu)射劑瓶無(wu)損密封測試(shi)儀(yi)




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