高(gao)真(zhen)空(kong)凍幹西(xi)林瓶(ping)密(mi)封(feng)性(xing)1μm檢測(ce)限(xian)

    針對(dui)凍幹粉針密封(feng)性(xing)，目前國內常用(yong)真空(kong)衰減或壓力(li)衰減法進行(xing)檢(jian)測(ce)，在(zai)實(shi)際(ji)應用(yong)中(zhong)，通(tong)常采用3μm的(de)檢測(ce)限(xian)，而這(zhe)種(zhong)微泄漏(lou)會(hui)導致包裝頂(ding)空(kong)發生(sheng)改變，包括壓力(li)、氧(yang)氣、水汽(qi)，使(shi)得產品的穩(wen)定性(xing)發生(sheng)改變。對(dui)於高(gao)真(zhen)空(kong)凍幹西(xi)林瓶(ping)，由(you)於瓶(ping)內(nei)外(wai)壓差(cha)大，非(fei)常(chang)微小(xiao)的(de)泄漏(lou)都會(hui)導致頂(ding)空(kong)顯著改(gai)變(bian)。

因(yin)此，需要找到(dao)壹(yi)個(ge)高(gao)度(du)靈敏(min)的包裝密(mi)封(feng)性(xing)檢測(ce)技(ji)術(shu)來(lai)替代現有(you)的真空(kong)/壓力(li)衰減法。而我們公司(si)目前檢測(ce)極(ji)限(xian)可以檢測(ce)≥1um，bai分(fen)百(bai)檢(jian)出(chu)。

檢(jian)測(ce)儀(yi)器(qi)推薦(jian)：MLT-V100微泄漏(lou)無(wu)損密封(feng)測(ce)試(shi)儀(yi)

MLT系(xi)列(lie)微泄漏(lou)無(wu)損密封(feng)測(ce)試(shi)儀(yi)依(yi)據(ju)《ASTM F2338-2013 包裝泄漏(lou)的標(biao)準梱(梱)測(ce)方(fang)法(fa)-真(zhen)空(kong)衰減法》   標(biao)準研(yan)發。與(yu)業(ye)適用於各(ge)種(zhong)空(kong)的/預(yu)充(chong)式(shi) 註(zhu)射(she)器(qi)、水針及粉針瓶(ping)(玻(bo)璃(li)/塑料(liao))、灌裝壓蓋(gai)瓶(ping)、奶粉罐、其他(ta)硬(ying)質(zhi)包裝容(rong)器(qi)、電(dian)器(qi)元件等(deng)試(shi)樣的無(wu)損正、負(fu)壓的(de)微泄漏(lou)測(ce)試(shi)。本(ben)產品采用先 進的(de)設(she)計和嚴謹、科學(xue)的(de)計算方法(fa)保(bao)證了其快(kuai)速測(ce)試(shi)和(he)高(gao)準(zhun)確(que)度(du)及(ji)高(gao)穩(wen)定性(xing)。亦可滿足用戶(hu)的(de)非(fei)標(biao)準(軟(ruan)件或(huo)測(ce)試(shi)夾(jia)具)定(ding)制(zhi)。

測(ce)試(shi)原(yuan)理：

通(tong)過(guo)標(biao)準腔與(yu)測(ce)試(shi)腔的壓力(li)比(bi)對(dui)，來判定(ding)測(ce)試(shi)腔是否存(cun)在(zai)氣體泄漏(lou)。

基(ji)準(zhun)容(rong)器(qi)和被(bei)測(ce)容(rong)器(qi)都是確(que)保(bao)密(mi)封(feng)不(bu)存在泄漏(lou)的，將(jiang)試(shi)樣放入(ru)被(bei)測(ce)容(rong)器(qi)後(hou)，由於(yu)試(shi)樣的氣體泄漏(lou)導致被(bei)測(ce)容(rong)器(qi)的壓 力(li)變(bian)化，通(tong)過(guo)差(cha)壓傳(chuan)感(gan)器(qi)檢測(ce)到(dao)壓力(li)的(de)變化量(liang)，再(zai)通過(guo)公式(shi)計算可推(tui)導出(chu)泄漏(lou)孔(kong)徑和(he)泄漏(lou)流量(liang)。

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