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產品詳細(xi)頁(ye)
微(wei)型小孔泄漏(lou)密封(feng)測試儀 無損密封(feng)檢測儀
簡要(yao)描(miao)述:MLT-V100T微型小孔泄漏(lou)密封(feng)測試儀 無損密封(feng)檢測儀依據(ju)《ASTM F2338-13 包(bao)裝(zhuang)泄漏(lou)的(de)標(biao)準(zhun)檢測方(fang)法-真空衰減(jian)法》 標(biao)準(zhun)研(yan)發(fa)。專(zhuan)業(ye)適(shi)用(yong)於各(ge)種(zhong)空的(de)/預(yu)充(chong)式(shi)註(zhu)射(she)器(qi)、水(shui)針(zhen)及(ji)粉針瓶(ping)(玻璃(li)/塑料(liao))、灌(guan)裝(zhuang)壓(ya)蓋(gai)瓶(ping)、其他硬質(zhi)包(bao)裝(zhuang)容器(qi)、電(dian)器(qi)元(yuan)件(jian)等試樣的(de)無損正、負(fu)壓(ya)的(de)微泄漏(lou)測試。本(ben)產品采用(yong)*的(de)設計(ji)和(he)嚴謹(jin)、科學(xue)的(de)計(ji)算(suan)方(fang)法保證(zheng)了(le)其快速(su)測試和高(gao)準(zhun)確(que)度及(ji)高(gao)穩(wen)定性(xing)。亦(yi)可(ke)滿足用(yong)戶(hu)的(de)非標(biao)準(zhun)(軟件或測(ce)試夾具(ju))定制。
產品型號:MLT-V100T
廠商(shang)性(xing)質:生產廠家
更(geng)新時間:2025-09-15
訪 問 量(liang):1319
產品介紹


MLT-V100T微型(xing)小孔泄漏(lou)密封(feng)測試儀 無損密封(feng)檢測儀
產品簡介(jie)
MLT系(xi)列(lie)微泄漏(lou)無損密封(feng)測試儀依(yi)據《ASTM F2338-2013 包(bao)裝(zhuang)泄漏(lou)的(de)標(biao)準(zhun)檢測方(fang)法-真空衰減(jian)法》標(biao)準(zhun)研(yan)發(fa)。專(zhuan)業(ye)適(shi)用(yong)於各(ge)種(zhong)空的(de)/預(yu)充(chong)式(shi) 註(zhu)射(she)器(qi)、水(shui)針(zhen)及(ji)粉針瓶(ping)(玻璃(li)/塑料(liao))、灌(guan)裝(zhuang)壓(ya)蓋(gai)瓶(ping)、奶粉罐(guan)、其他硬質(zhi)包(bao)裝(zhuang)容器(qi)、電(dian)器(qi)元(yuan)件(jian)等試樣的(de)無損正、負(fu)壓(ya)的(de)微泄漏(lou)測試。高精(jing)度CCIT測(ce)試技術能(neng)夠檢測到(dao)微型(xing)小孔的(de)泄漏(lou)。本(ben)產品采用(yong)先 進的(de)設計(ji)和(he)嚴謹(jin)、科學(xue)的(de)計(ji)算(suan)方(fang)法保證(zheng)了(le)其快速(su)測試和高(gao)準(zhun)確(que)度及(ji)高(gao)穩(wen)定性(xing)。亦(yi)可(ke)滿足用(yong)戶(hu)的(de)非標(biao)準(zhun)(軟件或測(ce)試夾具(ju))定制。
執(zhi)行(xing)標(biao)準(zhun)
《ASTM F2338-13 包(bao)裝(zhuang)泄漏(lou)的(de)標(biao)準(zhun)檢測方(fang)法-真空衰減(jian)法》
《USP1207美國藥(yao)典(dian)標(biao)準(zhun) 》
《藥(yao)品(pin)GMP指南——無菌藥(yao)品(pin)》 11.1密封(feng)完(wan)整性(xing)測試
《中國藥(yao)典(dian)》 2020年版(ban)四(si)部 微生(sheng)物(wu)檢查法
《化學(xue)藥(yao)品(pin)註射劑(ji)包(bao)裝(zhuang)系(xi)統(tong)密封(feng)性研(yan)究(jiu)技(ji)術指南(試行)》
《YYT 0681.18-2020 無菌醫療器(qi)械(xie)包(bao)裝(zhuang)試驗方(fang)法第18部分:用(yong)真空衰減(jian)法無損檢驗包(bao)裝(zhuang)泄漏(lou)》
技術優(you)勢(shi)
內(nei)置(zhi)10吋(cun)觸(chu)摸屏電(dian)腦(nao) 與外置(zhi)電(dian)腦(nao)可(ke)選;
可(ke)精(jing)確(que)顯示(shi)泄漏(lou)孔徑(≥1μm )及(ji)泄漏(lou)量 ;
測(ce)試腔(qiang)與主機為(wei)分體布局(ju),壹(yi)套(tao)測試腔(qiang)適(shi)用(yong)5種(zhong)以上規格(ge)試樣;
測(ce)試腔(qiang)為(wei)鋁(lv)合金(jin)或不(bu)銹(xiu)鋼制造,氣(qi)動(dong)夾持(chi);
內置流(liu)量計(ji),壹(yi)鍵(jian)完(wan)成流(liu)量校(xiao)準(zhun);
具備(bei)零(ling)點(dian)、漏(lou)孔、流(liu)量3種(zhong)校(xiao)準(zhun)方(fang)式;
測(ce)試結果具備(bei)壓(ya)力(li)衰(shuai)減(jian)、泄漏(lou)孔徑、泄漏(lou)流(liu)量三種(zhong)判斷模式(shi)
真空分辨(bian)率≤1pa/0.01mbar/0.0001psi
具備(bei)( kpa/mbar/pa/psi )等(deng)測(ce)試單(dan)位轉換
可(ke)檢測西林瓶,輸液(ye)袋,隱(yin)形眼鏡、奶粉罐(guan),電(dian)子配(pei)件等(deng)各(ge)種(zhong)軟、硬試樣的(de)正負(fu)壓(ya)力(li)衰(shuai)減(jian)測(ce)試;
技術參數
測試方(fang)法真空衰減(jian)法/壓力(li)衰(shuai)減(jian)法
測控技術微電腦(nao),雙傳(chuan)感器(qi)測(ce)試技術
真空方(fang)式真空泵(beng)
正壓(ya)方(fang)式外接(jie)氣(qi)源
測試單(dan)位kPa/mbar/psi/Pa
分辨(bian)率0.1Pa
測試範圍(wei)-99~400kPa
測量範(fan)圍(wei)≥0.01ccm (約1μm )
測(ce)試精(jing)度±0.3μm (<3μm )
主控(kong)芯(xin)片STM微(wei)電(dian)腦(nao)芯(xin)片
采(cai)集頻率50~200Hz
操控方(fang)式10寸(cun)液(ye)晶觸(chu)摸屏
操(cao)控(kong)系統(tong)Windows系統(tong)
MLT-V100T微型(xing)小孔泄漏(lou)密封(feng)測試儀 無損密封(feng)檢測儀




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