自動(dong)檢(jian)測(ce)漏(lou)孔(kong)無損真(zhen)空(kong)衰減法(fa)檢(jian)漏(lou)儀

產(chan)品(pin)介紹(shao)

MLT-V100（T）自動(dong)檢(jian)測(ce)漏(lou)孔(kong)無損真(zhen)空(kong)衰減法(fa)檢(jian)漏(lou)儀

產(chan)品(pin)簡(jian)介

MLT系(xi)列微泄漏(lou)無損密(mi)封測(ce)試(shi)儀(yi)依據(ju)《ASTM F2338-2013 包裝(zhuang)泄漏(lou)的標準(zhun)檢(jian)測(ce)方(fang)法(fa)-真(zhen)空(kong)衰減法(fa)》標準(zhun)研發。專(zhuan)業(ye)適用於(yu)各(ge)種(zhong)空(kong)的/預(yu)充(chong)式 註(zhu)射器(qi)、水(shui)針(zhen)及(ji)粉針(zhen)瓶(玻(bo)璃(li)/塑(su)料)、灌(guan)裝(zhuang)壓(ya)蓋瓶、奶粉罐(guan)、其(qi)他硬質包(bao)裝(zhuang)容器、電(dian)器元(yuan)件(jian)等試(shi)樣的(de)無損正、負(fu)壓(ya)的微泄(xie)漏(lou)測(ce)試(shi)。高精度(du)CCIT測(ce)試(shi)技(ji)術能(neng)夠(gou)檢(jian)測(ce)到(dao)微(wei)型小(xiao)孔(kong)的泄漏(lou)。本(ben)產(chan)品(pin)采用(yong)先 進(jin)的(de)設計和嚴謹、科(ke)學的(de)計算方(fang)法(fa)保(bao)證(zheng)了其快速(su)測(ce)試(shi)和(he)高準(zhun)確度及(ji)高穩定性。亦(yi)可(ke)滿足(zu)用戶(hu)的(de)非標準(zhun)(軟件(jian)或(huo)測(ce)試(shi)夾(jia)具)定制。

執(zhi)行(xing)標準(zhun)

《ASTM F2338-13 包裝(zhuang)泄(xie)漏(lou)的標準(zhun)檢(jian)測(ce)方(fang)法(fa)-真(zhen)空(kong)衰減法(fa)》    

《USP1207美國(guo)藥(yao)典標準(zhun) 》

《藥品(pin)GMP指南(nan)——無菌藥(yao)品(pin)》  11.1密(mi)封完(wan)整性(xing)測(ce)試(shi)

《中(zhong)國(guo)藥(yao)典》 2020年(nian)版(ban)四部 微生(sheng)物(wu)檢(jian)查法

《化學藥(yao)品(pin)註(zhu)射劑包裝(zhuang)系統(tong)密(mi)封性研(yan)究(jiu)技(ji)術指南(nan)(試(shi)行(xing))》

《YYT 0681.18-2020 無菌醫(yi)療(liao)器械包裝試(shi)驗(yan)方(fang)法(fa)第(di)18部分：用(yong)真(zhen)空(kong)衰減法(fa)無損檢(jian)驗(yan)包(bao)裝(zhuang)泄(xie)漏(lou)》

技(ji)術優(you)勢(shi)

內(nei)置10吋觸(chu)摸(mo)屏(ping)電(dian)腦 與外(wai)置(zhi)電(dian)腦可(ke)選(xuan)；

可(ke)精(jing)確顯(xian)示(shi)泄(xie)漏(lou)孔(kong)徑(≥1μm )及(ji)泄漏(lou)量  ；

測(ce)試(shi)腔(qiang)與主(zhu)機為(wei)分體(ti)布(bu)局，壹套測(ce)試(shi)腔(qiang)適(shi)用(yong)5種(zhong)以上規格試(shi)樣；

測(ce)試(shi)腔(qiang)為(wei)鋁(lv)合金(jin)或(huo)不銹鋼制(zhi)造，氣動(dong)夾(jia)持(chi)；

內(nei)置流(liu)量(liang)計，壹鍵完(wan)成流(liu)量校準(zhun)；

具備(bei)零(ling)點(dian)、漏(lou)孔(kong)、流量3種(zhong)校準(zhun)方(fang)式；

測(ce)試(shi)結果具備(bei)壓(ya)力衰減、泄(xie)漏(lou)孔(kong)徑、泄漏(lou)流量(liang)三(san)種(zhong)判斷(duan)模式

真(zhen)空(kong)分辨率≤1pa/0.01mbar/0.0001psi

具備( kpa/mbar/pa/psi )等(deng)測(ce)試(shi)單(dan)位(wei)轉(zhuan)換

可(ke)檢(jian)測(ce)西(xi)林(lin)瓶，輸(shu)液(ye)袋，隱形眼鏡(jing)、奶粉罐(guan)，電(dian)子配(pei)件(jian)等各(ge)種(zhong)軟、硬(ying)試(shi)樣的(de)正負(fu)壓(ya)力衰減測(ce)試(shi)；

技(ji)術參數(shu)

測(ce)試(shi)方(fang)法(fa)真(zhen)空(kong)衰減法(fa)/壓(ya)力衰減法(fa)

測(ce)控(kong)技(ji)術微電(dian)腦，雙(shuang)傳感(gan)器(qi)測(ce)試(shi)技(ji)術

真(zhen)空(kong)方(fang)式真(zhen)空(kong)泵(beng)

正壓(ya)方(fang)式外接(jie)氣(qi)源

測(ce)試(shi)單(dan)位(wei)kPa/mbar/psi/Pa

分(fen)辨率0.1Pa

測(ce)試(shi)範(fan)圍-99~400kPa

測(ce)量(liang)範(fan)圍≥0.01ccm (約1μm )

測(ce)試(shi)精(jing)度±0.3μm (＜3μm )

主(zhu)控芯片STM微(wei)電(dian)腦芯片

采(cai)集頻率50~200Hz

操(cao)控(kong)方(fang)式10寸液(ye)晶(jing)觸(chu)摸(mo)屏(ping)

操(cao)控(kong)系(xi)統(tong)Windows系統(tong)

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