真空衰減(jian)微泄(xie)漏密封性測(ce)試(shi)儀

產(chan)品(pin)介(jie)紹

真(zhen)空衰減(jian)微泄(xie)漏密封性測(ce)試(shi)儀

產(chan)品(pin)簡介(jie)

MLT系列(lie)微泄(xie)漏無(wu)損密封(feng)測(ce)試(shi)儀依(yi)據(ju)《ASTM F2338-2013 包裝泄(xie)漏的(de)標(biao)準(zhun)檢(jian)測(ce)方(fang)法(fa)-真空衰減(jian)法》標(biao)準(zhun)研發。適(shi)用(yong)於(yu)預(yu)充式(shi) 註(zhu)射器、水(shui)針及粉針瓶(ping)(玻璃(li)/塑料)、灌裝(zhuang)壓蓋(gai)瓶(ping)、奶粉罐、其(qi)他硬(ying)質(zhi)包裝容器(qi)、電(dian)器(qi)元件等試(shi)樣(yang)的(de)無(wu)損正、負(fu)壓的(de)微泄(xie)漏測(ce)試(shi)。G精(jing)度(du)CCIT測(ce)試(shi)技(ji)術能(neng)夠(gou)檢(jian)測(ce)到微型(xing)小(xiao)孔(kong)的(de)泄(xie)漏。本產(chan)品(pin)采(cai)用(yong)先(xian) 進(jin)的(de)設(she)計(ji)和(he)嚴(yan)謹、科(ke)學(xue)的(de)計算(suan)方(fang)法(fa)確保了(le)其(qi)快(kuai)速(su)測(ce)試(shi)和(he)高(gao)準(zhun)確度及(ji)高(gao)穩定(ding)性。亦(yi)可滿(man)足用(yong)戶(hu)的(de)非(fei)標(biao)準(zhun)(軟件(jian)或測(ce)試(shi)夾具)定制。

執(zhi)行(xing)標(biao)準(zhun)

《ASTM F2338-13 包裝泄(xie)漏的(de)標(biao)準(zhun)檢(jian)測(ce)方(fang)法(fa)-真空衰減(jian)法》    

《USP1207美(mei)國(guo)藥(yao)典標(biao)準(zhun) 》

《藥(yao)品(pin)GMP指(zhi)南——無(wu)菌藥(yao)品(pin)》  11.1密(mi)封完整(zheng)性測(ce)試(shi)

《中國藥(yao)典》 2020年(nian)版四(si)部 微生(sheng)物檢(jian)查法(fa)

《化學(xue)藥(yao)品(pin)註(zhu)射劑包裝系統密封性研(yan)究(jiu)技(ji)術指(zhi)南(試(shi)行(xing))》

《YYT 0681.18-2020 無(wu)菌醫療(liao)器(qi)械(xie)包裝試(shi)驗方(fang)法(fa)D18部分：用(yong)真(zhen)空衰減(jian)法無(wu)損檢(jian)驗包裝泄(xie)漏》

技(ji)術特征

內置10吋(cun)觸(chu)摸(mo)屏(ping)電(dian)腦(nao) 與外置(zhi)電(dian)腦(nao)可選；

可顯示(shi)泄(xie)漏孔(kong)徑(≥1μm )及泄(xie)漏量 ；

測(ce)試(shi)腔(qiang)與主機為(wei)分(fen)體布(bu)局(ju)，壹(yi)套(tao)測(ce)試(shi)腔(qiang)適(shi)用(yong)5種(zhong)以(yi)上規格試(shi)樣(yang)；

測(ce)試(shi)腔(qiang)為(wei)鋁(lv)合(he)金(jin)或不銹(xiu)鋼制造，氣(qi)動夾(jia)持(chi)；

內置流(liu)量計，壹(yi)鍵(jian)完(wan)成流(liu)量校準(zhun)；

具備(bei)零(ling)點、漏孔(kong)、流(liu)量3種校準(zhun)方(fang)式(shi)；

測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)具備(bei)壓力衰減(jian)、泄(xie)漏孔(kong)徑、泄(xie)漏流(liu)量三種判斷(duan)模(mo)式(shi)

真(zhen)空分(fen)辨率≤1pa/0.01mbar/0.0001psi

具備(bei)( kpa/mbar/pa/psi )等(deng)測(ce)試(shi)單(dan)位(wei)轉(zhuan)換(huan)

可(ke)檢(jian)測(ce)西(xi)林(lin)瓶(ping)，輸液(ye)袋，隱(yin)形(xing)眼(yan)鏡、奶(nai)粉罐，電(dian)子(zi)配件等各(ge)種(zhong)軟(ruan)、硬(ying)試(shi)樣(yang)的(de)正負(fu)壓力衰減(jian)測(ce)試(shi)；

技(ji)術參(can)數(shu)

測(ce)試(shi)方(fang)法(fa) 真空衰減(jian)法/壓力衰減(jian)法

測(ce)控(kong)技(ji)術 微(wei)電(dian)腦(nao)，雙傳感(gan)器測(ce)試(shi)技(ji)術

真(zhen)空方(fang)式(shi) 真(zhen)空泵(beng)

正(zheng)壓方(fang)式(shi) 外接(jie)氣(qi)源

測(ce)試(shi)單(dan)位(wei) kPa/mbar/psi/Pa

分(fen)辨率 0.1Pa

測(ce)試(shi)範(fan)圍(wei) -99~400kPa

測(ce)量(liang)範(fan)圍(wei) ≥0.01ccm (約(yue)1μm )

測(ce)試(shi)精(jing)度(du) ±0.3μm (＜3μm )

主(zhu)控(kong)芯片 STM微電(dian)腦(nao)芯片

采(cai)集頻(pin)率 50~200Hz

操控方(fang)式(shi) 10寸液(ye)晶觸(chu)摸(mo)屏(ping)

外形(xing)尺寸 340(L)×480(W)×320(H)mm

操控系(xi)統 Windows系統

真空衰減(jian)微泄(xie)漏密封性測(ce)試(shi)儀