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密封(feng)測試儀(yi)
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- 正壓(ya)密(mi)封(feng)測試儀(yi)
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負(fu)壓(ya)測(ce)試密(mi)封(feng)性(xing)測(ce)試儀(yi)
簡要(yao)描述(shu):負(fu)壓(ya)測(ce)試密(mi)封(feng)性(xing)測(ce)試儀(yi)用(yong)於(yu)食(shi)品(pin)、制(zhi)藥(yao)、日(ri)化、電子等(deng)行(xing)業軟(ruan)包(bao)裝(zhuang)件(jian)的(de)密封(feng)試驗。通過試驗可(ke)以(yi)有(you)效(xiao)地比(bi)較和評價(jia)軟(ruan)包(bao)裝(zhuang)件(jian)的(de)密封(feng)工藝(yi)及密(mi)封(feng)性(xing)能(neng),為(wei)確(que)定(ding)相(xiang)關的(de)技(ji)術指(zhi)標(biao)提供(gong)科(ke)學依(yi)據。密(mi)封(feng)試驗儀也(ye)可(ke)進行(xing)經跌(die)落(luo)、耐(nai)壓(ya)試驗後(hou)的(de)試件(jian)的(de)密封(feng)性(xing)能(neng)測(ce)試。
產(chan)品(pin)型號(hao):LT-02P
廠商(shang)性(xing)質(zhi):生(sheng)產(chan)廠(chang)家
更(geng)新(xin)時間:2025-09-18
訪(fang) 問(wen) 量:412
產(chan)品(pin)介紹(shao)
負(fu)壓(ya)測(ce)試密(mi)封(feng)性(xing)測(ce)試儀(yi)

產品(pin)簡介(jie)
LT-02P型密封(feng)試驗儀適(shi)用(yong)於(yu)食(shi)品(pin)、制(zhi)藥(yao)、日(ri)化、電子等(deng)行(xing)業軟(ruan)包(bao)裝(zhuang)件(jian)的(de)密封(feng)試驗。通過試驗可(ke)以(yi)有(you)效(xiao)地比(bi)較和評價(jia)軟(ruan)包(bao)裝(zhuang)件(jian)的(de)密封(feng)工藝(yi)及密(mi)封(feng)性(xing)能(neng),為(wei)確(que)定(ding)相(xiang)關的(de)技(ji)術指(zhi)標(biao)提供(gong)科(ke)學依(yi)據。也(ye)可(ke)進行(xing)經跌(die)落(luo)、耐(nai)壓(ya)試驗後(hou)的(de)試件(jian)的(de)密封(feng)性(xing)能(neng)測(ce)試。相(xiang)比(bi)傳(chuan)統(tong)設計真正實(shi)現了(le)智(zhi)能化測試:多(duo)組試驗參數(shu)預(yu)置(zhi)可(ke)大(da)幅提高(gao)檢(jian)測效率(lv);壓(ya)力(li)遞(di)增(zeng)檢(jian)測(ce)模式(shi)可(ke)迅速得出試樣(yang)泄(xie)漏參(can)數(shu),亦(yi)可(ke)觀察試樣(yang)在(zai)階梯(ti)壓(ya)力(li)環(huan)境(jing)和不(bu)同保(bao)壓(ya)時(shi)間(jian)下(xia)的(de)蠕(ru)變和破裂及(ji)泄(xie)漏狀(zhuang)況;可(ke)打(da)印參(can)數(shu)及試驗結(jie)果(打(da)印機(ji)選配(pei))
產(chan)品(pin)特征
●試驗過程全(quan)自(zi)動,壹(yi)鍵(jian)完(wan)成(cheng)測試
●內(nei)置(zhi)高精(jing)度(du)傳(chuan)感(gan)器,反(fan)應更(geng)快(kuai)
●多(duo)種模(mo)式(shi)可(ke)選,滿(man)足(zu)不(bu)同試樣(yang)的(de)測試需(xu)求
●每種模(mo)式(shi)預(yu)置(zhi)多(duo)組參(can)數,可(ke)快速選擇(ze)進行(xing)測試
●雙(shuang)氣(qi)路設計,測試更(geng)準(zhun)確(que)
●測試組(zu)數自(zi)動累加,可(ke)統(tong)計測(ce)試數(shu)量
●選配(pei)針(zhen)式(shi)打(da)印機(ji),可(ke)完(wan)成(cheng)測試結(jie)果的(de)保(bao)存(cun)打(da)印
●具(ju)備(bei)測(ce)試結(jie)果保(bao)存(cun)、500條(tiao)查詢、打(da)印功能(可(ke)選)
●真空度(du)自(zi)動保(bao)持及反(fan)吹(chui)卸載
●超厚(hou)有(you)機(ji)玻璃真空室
●配(pei)置(zhi)調(tiao)壓(ya)系(xi)統(tong),易操(cao)作(zuo),易(yi)維(wei)護(hu)
●三(san)級(ji)管理權限(需(xu)另購)
●梯(ti)度(du)增壓(ya)模(mo)式(shi)更(geng)人性(xing)化(hua)
●實(shi)時(shi)停(ting)機,保(bao)壓(ya)時(shi)間(jian)、精(jing)度(du)更(geng)高(gao)
技(ji)術參數(shu)
真 空 度(du)0~-97Kpa
響應速度<5 ms
分(fen) 辨(bian) 率(lv)0.01 Kpa
傳(chuan)感(gan)器精(jing)度(du)≤0.5級(ji)
內(nei)置(zhi)模式(shi)單點(dian)模式(shi)、遞增(zeng)模式(shi)
顯示(shi)屏7吋(cun)觸(chu)摸屏(ping)
調(tiao)壓(ya)範(fan)圍0.2-0.7 Mpa
接(jie)口尺(chi)寸(cun)Φ6
保(bao)壓(ya)時(shi)間(jian)0-999999 s
真 空 室Φ270 mmx210 mm (H)
Φ360 mmx585 mm (H)
Φ460 mmx330 mm (H)
設備(bei)尺(chi)寸420(L)X 300(B)X 165(H)mm
氣 源壓(ya)縮(suo)空氣(qi)(用(yong)戶(hu)自(zi)備(bei))
打(da) 印 機(ji)(選配(pei))針(zhen)式(shi)
數據導(dao)出U盤/微(wei)型(xing)打(da)印機(ji)(可(ke)選)
控制(zhi)方式(shi)單片機/電(dian)腦(nao)(可(ke)選)
產(chan)品(pin)標準(zhun)
YBB00052005-2015、GB/T 15171,GB/T27728-2011、GB 7544-2009、ASTM D3078 ,YBB00122002-2015
負(fu)壓(ya)測(ce)試密(mi)封(feng)性(xing)測(ce)試儀(yi)





- 上壹(yi)篇(pian):WVTR-RC6WVTR稱(cheng)重法透濕測試儀(yi)




在(zai)線交(jiao)流(liu)