生(sheng)物(wu)降解(jie)塑料購物(wu)袋(dai)落鏢沖擊(ji)試(shi)驗(yan)儀

產(chan)品(pin)介紹

FB-30J生(sheng)物(wu)降解(jie)塑料購物(wu)袋(dai)落鏢沖擊(ji)試(shi)驗(yan)儀

產(chan)品(pin)介紹

FB-30J落鏢沖擊(ji)試(shi)驗(yan)儀用於厚度(du)小於1mm的塑(su)料薄膜或薄片(pian)在給定(ding)高度(du)的自由(you)落鏢沖擊(ji)下(xia)，測定(ding)50%塑料薄膜或薄片(pian)試(shi)樣破損(sun)時(shi)的沖(chong)擊(ji)質量(liang)和(he)能量(liang)。

落鏢測試(shi)常常選擇(ze)梯(ti)級法來(lai)進行(xing)，梯(ti)級法中(zhong)又(you)分(fen)為(wei)落鏢沖擊(ji)A法和(he)B法。

兩者(zhe)的(de)區別(bie)：落鏢頭直(zhi)徑、材(cai)料以及(ji)落下(xia)高度(du)不壹樣。壹般(ban)來講(jiang)，A法適(shi)用於沖擊(ji)破損質(zhi)量(liang)為(wei)50g～2000g的(de)材(cai)料。B法適(shi)用於沖擊(ji)破損質(zhi)量(liang)為(wei)300g～2000g的(de)材(cai)料。

其中(zhong)GB/T 9639和(he)ISO 7765的梯(ti)級法是(shi)等(deng)同方(fang)法。

A法：落鏢頭直(zhi)徑為(wei)38±1mm，鏢頭材(cai)料為(wei)光(guang)滑(hua)、拋(pao)光(guang)的鋁、酚(fen)醛塑(su)料或其他硬度(du)相(xiang)似的低(di)密度(du)材(cai)料制成(cheng)，下(xia)落高度(du)為(wei)0.66±0.01m。

B法：落鏢頭直(zhi)徑50±1mm，鏢頭材(cai)料為(wei)光(guang)滑(hua)、拋(pao)光(guang)的不銹(xiu)鋼或其(qi)他硬度(du)相(xiang)似的材(cai)料制成(cheng)，下(xia)落高度(du)為(wei)1.50 ±0.01m。而(er)ASTM D1709中(zhong)，A法和(he)B法的(de)落鏢頭直(zhi)徑分(fen)別(bie)為(wei)38.1±0.13mm和(he)50.8±0.13mm。

產(chan)品(pin)特點(dian)

1.機械造(zao)型新(xin)穎、操(cao)作(zuo)設(she)計體貼(tie)入(ru)微(wei)、國(guo)家標準(zhun)、國(guo)際標(biao)準(zhun)同時(shi)兼(jian)容(rong)。

2.試(shi)驗(yan)方法A、B雙(shuang)模(mo)式。

3.試(shi)驗(yan)數(shu)據實驗過(guo)程(cheng)智(zhi)能化(hua)、大(da)大(da)提(ti)高(gao)了工(gong)作(zuo)效率(lv)。

4.試(shi)樣氣動加緊、釋(shi)放、減(jian)少(shao)了實驗誤(wu)差與(yu)試(shi)驗(yan)時(shi)間。

5.數(shu)據參數(shu)系統(tong)液(ye)晶(jing)顯示(shi)。

產(chan)品(pin)應用

薄膜、薄(bo)片(pian)適用於厚度(du)小於1mm塑料薄膜、薄片(pian)、復(fu)合膜的的(de)抗沖擊(ji)性能測試(shi)。如(ru)PE保鮮(xian)膜、纏(chan)繞(rao)膜、PET片(pian)材(cai)、各(ge)種(zhong)結構的(de)食(shi)品包裝(zhuang)袋(dai)、重(zhong)包裝(zhuang)袋(dai)等(deng)鋁(lv)箔(bo)、鋁(lv)塑復(fu)合膜， 適用於鋁箔(bo)、鋁(lv)塑(su)復(fu)合膜的抗(kang)沖擊(ji)性能測試(shi) ，紙(zhi)張、紙板測試(shi) 適(shi)用於紙張(zhang)、紙(zhi)板(ban)的抗(kang)沖(chong)擊(ji)性能測試(shi) 。

技(ji)術標(biao)準(zhun)。

試(shi)驗(yan)開(kai)始(shi)時(shi)，首先(xian)選擇(ze)試(shi)驗(yan)方法，估(gu)計壹(yi)個(ge)初始質量(liang)和(he)Δm值，進(jin)行(xing)試(shi)驗(yan)，如(ru)果(guo)第壹個試(shi)樣破損(sun)，用砝(fa)碼Δm減少(shao)落體質(zhi)量(liang)；如(ru)果(guo)第壹個試(shi)樣不破(po)，須(xu)用砝(fa)碼Δm增加落體質(zhi)量(liang)依(yi)此(ci)進(jin)行(xing)試(shi)驗(yan)。總之，利用砝(fa)碼減少(shao)或增加落體質(zhi)量(liang)，取決於(yu)前(qian)壹個試(shi)樣是(shi)否破損(sun)。20個試(shi)樣試(shi)驗(yan)後(hou)，計(ji)算破(po)損總(zong)數(shu)N，如(ru)果(guo)N等(deng)於(yu)10，試(shi)驗(yan)完成(cheng)；如(ru)果(guo)N小(xiao)於(yu)10，補充試(shi)樣後(hou)，繼續試(shi)驗(yan)直(zhi)到N等(deng)於(yu)10；如(ru)果(guo)N大(da)於(yu)10，補(bu)充(chong)試(shi)樣後(hou)，繼續試(shi)驗(yan)直(zhi)到不(bu)破(po)損(sun)的(de)總數(shu)等於(yu)10為(wei)止，最(zui)後(hou)由(you)系統(tong)自(zi)動計(ji)算沖(chong)擊(ji)結果(guo)。儀器符(fu)合(he)GB9639、ASTM D1709、JISK7124等(deng)相(xiang)關標準(zhun)和(he)規定(ding)。

產(chan)品(pin)參數(shu)

測量(liang)方(fang)法A法、B法（二選壹，還(hai)可同(tong)時(shi)實現）

測試(shi)範(fan)圍(wei)A法：50～2000g B法：300～2000g

測試(shi)範(fan)圍(wei)測試(shi)精(jing)度(du)：0.1g（0.1J）

試(shi)樣裝(zhuang)夾電(dian)動

試(shi)樣尺寸＞150mm×150mm

電(dian)　　源(yuan)AC 220V±5%  50Hz

凈　　重(zhong)約65kg

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