薄(bo)膜(mo)落鏢(biao)沖(chong)擊強(qiang)度試(shi)驗儀

產品(pin)介(jie)紹(shao)

     沖(chong)擊強(qiang)度是(shi)材料(liao)重要(yao)的機械(xie)力(li)學(xue)性(xing)能之壹，沖(chong)擊性(xing)能試驗是在沖擊負荷作用下測(ce)定材(cai)料(liao)的沖擊強(qiang)度，以(yi)用來衡(heng)量(liang)高分子(zi)材(cai)料(liao)在經受高速沖(chong)擊狀態(tai)下的韌性(xing)或(huo)對斷裂(lie)的抵抗(kang)能力，也(ye)稱沖(chong)擊韌性(xing)。不同材料或(huo)不同用途(tu)可(ke)選擇不(bu)同的沖擊試驗(yan)方法(fa)，壹般(ban)對於(yu)厚(hou)度(du)小於1mm的薄膜(mo)材(cai)料，選擇落鏢(biao)沖(chong)擊來測(ce)試材(cai)料(liao)的抗沖(chong)擊性(xing)能。

   適用於塑(su)料(liao)薄(bo)膜(mo)、薄(bo)片(pian)在給定高度的自由(you)落鏢(biao)沖(chong)擊下，測(ce)定試(shi)樣破(po)損(sun)時的沖擊質(zhi)量(liang)和能量(liang)，儀器(qi)采(cai)用雙(shuang)實驗(yan)模(mo)式，微電(dian)腦控制(zhi)，操(cao)作(zuo)方便簡單(dan)。

兩者(zhe)的區別(bie)：落鏢(biao)頭(tou)直(zhi)徑、材(cai)料(liao)以(yi)及落下(xia)高度不(bu)壹樣。壹般(ban)來(lai)講(jiang)，A法適用於沖(chong)擊破(po)損(sun)質(zhi)量(liang)為50g～2000g的材料(liao)。B法(fa)適用於(yu)沖擊破(po)損(sun)質(zhi)量(liang)為300g～2000g的材料(liao)。

其(qi)中GB/T 9639和ISO 7765的梯級(ji)法是(shi)等同方法(fa)。

A法(fa)：落鏢(biao)頭(tou)直(zhi)徑為38±1mm，鏢(biao)頭(tou)材料為光(guang)滑(hua)、拋(pao)光(guang)的鋁、酚醛(quan)塑(su)料(liao)或(huo)其(qi)他硬(ying)度相似(si)的低密(mi)度材(cai)料制(zhi)成(cheng)，下(xia)落高度為0.66±0.01m。

B法：落鏢(biao)頭(tou)直(zhi)徑50±1mm，鏢(biao)頭(tou)材料為光(guang)滑(hua)、拋(pao)光(guang)的不銹(xiu)鋼(gang)或(huo)其(qi)他硬(ying)度相似(si)的材料(liao)制(zhi)成(cheng)，下(xia)落高度為1.50 ±0.01m。而ASTM D1709中，A法和B法的落鏢(biao)頭(tou)直(zhi)徑分(fen)別(bie)為38.1±0.13mm和50.8±0.13mm。

產品(pin)介(jie)紹(shao)

用(yong)於(yu)厚度小於(yu)1mm的塑(su)料(liao)薄(bo)膜(mo)或(huo)薄片(pian)在給定高度的自由(you)落鏢(biao)沖(chong)擊下，測(ce)定50%塑(su)料(liao)薄(bo)膜(mo)或(huo)薄片(pian)試樣破(po)損(sun)時的沖擊質(zhi)量(liang)和能量(liang)。

產品(pin)特(te)點(dian)

1. 機(ji)械(xie)造型(xing)新(xin)穎、操(cao)作(zuo)設(she)計(ji)體(ti)貼入(ru)微、國(guo)家標(biao)準(zhun)、國(guo)際標(biao)準(zhun)同時兼容。

2. 試驗(yan)方法(fa)A、B雙(shuang)模(mo)式。

3. 試驗(yan)數(shu)據(ju)實驗(yan)過(guo)程(cheng)智能化(hua)、大大提(ti)高了工(gong)作(zuo)效(xiao)率。

4. 試(shi)樣氣動加(jia)緊(jin)、釋(shi)放(fang)、減(jian)少了實驗(yan)誤(wu)差與(yu)試(shi)驗時間(jian)。

5. 數(shu)據(ju)參數系(xi)統(tong)液晶(jing)顯示。

技(ji)術(shu)標(biao)準。

試驗(yan)開(kai)始時，首(shou)先(xian)選擇試(shi)驗方法(fa)，估(gu)計壹個(ge)初始質(zhi)量(liang)和Δm值，進(jin)行(xing)試驗，如果第(di)壹個(ge)試樣破(po)損(sun)，用砝(fa)碼(ma)Δm減(jian)少落體(ti)質(zhi)量(liang)；如(ru)果第(di)壹個(ge)試樣不破(po)，須用砝(fa)碼(ma)Δm增(zeng)加(jia)落體(ti)質(zhi)量(liang)依(yi)此進(jin)行(xing)試驗。總之，利用砝(fa)碼(ma)減(jian)少或(huo)增(zeng)加(jia)落體(ti)質(zhi)量(liang)，取(qu)決於前(qian)壹個(ge)試樣是否破(po)損(sun)。20個(ge)試樣試驗後(hou)，計(ji)算(suan)破(po)損(sun)總數(shu)N，如(ru)果N等(deng)於10，試驗(yan)完(wan)成(cheng)；如(ru)果N小(xiao)於10，補充(chong)試樣後(hou)，繼(ji)續(xu)試驗(yan)直(zhi)到(dao)N等(deng)於10；如果N大於(yu)10，補充(chong)試樣後(hou)，繼(ji)續(xu)試驗(yan)直(zhi)到(dao)不(bu)破(po)損(sun)的總數(shu)等(deng)於10為止，最後(hou)由(you)系(xi)統(tong)自動計(ji)算(suan)沖(chong)擊結果。儀器(qi)符合(he)GB9639、ASTM D1709、JISK7124等(deng)相關(guan)標(biao)準和規(gui)定(ding)。

產品(pin)參數

產品(pin)配置(zhi)

薄(bo)膜落鏢(biao)沖(chong)擊強(qiang)度試(shi)驗儀 薄膜(mo)落鏢(biao)沖(chong)擊強(qiang)度試(shi)驗儀

標準(zhun)配置(zhi)：A法(fa)配置(zhi)、微(wei)型(xing)打(da)印(yin)機(ji)。

選 購 件(jian)：B法(fa)配置(zhi)、專(zhuan)業(ye)軟(ruan)件(jian)、通信(xin)電纜(lan)。

售後(hou)服(fu)務

落鏢(biao)沖(chong)擊試驗(yan)儀 落鏢(biao)沖(chong)擊試驗(yan)儀供方嚴(yan)格(ge)按照國(guo)家有(you)關(guan)標(biao)準(zhun)和規(gui)定(ding)進(jin)行(xing)制(zhi)造和檢驗，確(que)保材(cai)料及零部(bu)件(jian)均(jun)為全新；

供方提(ti)供的質(zhi)量(liang)保證(zheng)期(qi)12個(ge)月(yue)。如(ru)在此期(qi)間(jian)確(que)因供方產品(pin)質(zhi)量(liang)問(wen)題，由(you)共(gong)方負(fu)擔(dan)儀器(qi)材料(liao)費(fei)、維(wei)修費、儀器(qi)往返廠(chang)運費(fei)；

如運輸過程(cheng)中儀器(qi)受損(sun)，由(you)供方負(fu)擔(dan)儀器(qi)材料(liao)費(fei)、維(wei)修費、儀器(qi)往返廠(chang)運費(fei)；

保修(xiu)期(qi)外長(chang)期(qi)提(ti)供技(ji)術(shu)支(zhi)持，終(zhong)生不收(shou)維修(xiu)費(fei)，只(zhi)收取(qu)基(ji)本材(cai)料費(fei)及運費(fei)；

接受服(fu)務請(qing)求(qiu)後(hou)1小(xiao)時(shi)內做出回應(ying)，2小(xiao)時內提(ti)出處理(li)意見和解決方案(an)。