妳(ni)的(de)位(wei)置(zhi):首(shou)頁 > 技(ji)術文(wen)章(zhang) > 偏(pian)光(guang)應力儀(yi)解(jie)決方案
技(ji)術文(wen)章(zhang)玻(bo)璃制(zhi)品偏(pian)光(guang)應力儀(yi)是應用偏(pian)振(zhen)光(guang)幹(gan)涉原理檢(jian)查(zha)玻(bo)璃內(nei)應力或(huo)晶(jing)體(ti)雙(shuang)折(zhe)射效(xiao)應的(de)儀(yi)器(qi)。由於(yu)儀(yi)器(qi)備有靈(ling)敏色(se)片(pian),並應用1/4波(bo)片(pian)補償(chang)方法(fa),因(yin)此本(ben)儀(yi)器(qi)不僅可以(yi)根(gen)據偏(pian)振(zhen)場中的(de)幹(gan)涉色(se)序定(ding)性或半(ban)定(ding)量的(de)測量玻璃的(de)內(nei)應力,還(hai)可(ke)以(yi)準(zhun)確(que)的(de)測量出玻璃的(de)內(nei)應力數(shu)值(zhi)。
測試方法(fa):
(1)無(wu)色(se)供(gong)試(shi)品(pin)的(de)檢(jian)驗
1.無(wu)色(se)供(gong)試(shi)品(pin)底(di)部(bu)的(de)檢(jian)驗:將(jiang)四(si)分之(zhi)壹波(bo)片(pian)置(zhi)入視(shi)場(chang),調整偏(pian)光(guang)應力儀(yi)零(ling)點(dian),使(shi)之呈暗視場。
2.把(ba)供(gong)試品(pin)放(fang)入視(shi)場(chang),從口(kou)部(bu)觀(guan)察(cha)底(di)部(bu),這時視場(chang)中會(hui)出現(xian)暗十字,如(ru)果供試品應力小(xiao),則(ze)這個暗十字便(bian)會(hui)模糊(hu)不清(qing)。旋(xuan)轉檢(jian)偏(pian)鏡,使(shi)暗十字分(fen)離(li)成兩(liang)個沿(yan)相反(fan)方 向(xiang)移(yi)動的(de)圓(yuan)弧,隨(sui)著暗區的(de)外(wai)移(yi),在圓(yuan)弧的(de)凹(ao)側(ce)便(bian)出現(xian)藍灰色(se),凸側(ce)便(bian)出現(xian)褐色(se)。如(ru)測定某選定(ding)點(dian)的(de)應力值(zhi),則(ze)旋轉檢(jian)偏(pian)鏡直至該點藍灰色(se)剛好被(bei)褐色(se)取(qu)代為(wei)止。繞 軸線(xian)旋(xuan)轉供(gong)試品(pin),找(zhao)出(chu)zui大(da)應力點(dian),旋(xuan)轉檢(jian)偏(pian)鏡,直至藍灰色(se)被(bei)褐色(se)取(qu)代,記(ji)錄此(ci)時的(de)檢(jian)偏(pian)鏡旋(xuan)轉角(jiao)度,並測量該點的(de)厚(hou)度(du)。
無(wu)色(se)供(gong)試(shi)品(pin)側(ce)壁的(de)檢(jian)驗:將(jiang)四(si)分之(zhi)壹波(bo)片(pian)置(zhi)入視(shi)場(chang),調整偏(pian)光(guang)應力儀(yi)零(ling)點,使(shi)之呈暗視場。把(ba)供(gong)試品(pin)放(fang)入視(shi)場(chang)中,使(shi)供試(shi)品的(de)軸線(xian)與(yu)偏(pian)振(zhen)平(ping)面成45º,這時側(ce)壁上(shang) 出現(xian)亮(liang)暗不同(tong)的(de)區(qu)域(yu)。旋(xuan)轉檢(jian)偏(pian)鏡直至側(ce)壁上(shang)暗區聚(ju)會(hui),剛好*取(qu)代亮(liang)區為止。繞軸線(xian)旋(xuan)轉供(gong)試品(pin),借(jie)以(yi)確(que)定(ding)zui大應力區(qu)。記(ji)錄測得zui大應力區(qu)的(de)檢(jian)偏(pian)鏡放(fang)置(zhi)角(jiao) 度(du),並用普(pu)創(chuang)玻(bo)璃瓶壁厚(hou)測厚儀分(fen)別(bie)測量兩(liang)側(ce)壁原(yuan)的(de)厚(hou)度(du)(記(ji)錄兩(liang)側(ce)壁壁厚(hou)之和)。
(2)有色(se)供(gong)試(shi)品(pin)的(de)檢(jian)驗
檢(jian)驗步(bu)驟(zhou)與(yu)(1)相同(tong)。當(dang)沒(mei)有明(ming)顯的(de)藍色(se)和褐色(se)以(yi)及玻璃透過率(lv)較(jiao)低(di)時,較(jiao)難確(que)定(ding)檢(jian)偏(pian)鏡的(de)旋(xuan)轉終點,深(shen)色(se)供(gong)試(shi)品(pin)尤(you)為嚴重,這時可以(yi)采(cai)用平(ping)均的(de)方法(fa)來(lai)確(que)定(ding)準(zhun)確(que)的(de)終點。即(ji)以(yi)暗區取(qu)代亮(liang)區的(de)旋(xuan)轉角(jiao)度與(yu)再(zai)使(shi)亮區(qu)剛好重新出(chu)現(xian)的(de)總(zong)旋(xuan)轉角(jiao)度之(zhi)和的(de)平(ping)均值表(biao)示(shi)之。
結(jie)果(guo)計算
δ= T / t =θ×3.14 / t
式中:δ ——供(gong)試(shi)品的(de)應力,nm/mm;
T ——供(gong)試(shi)品被(bei)測部(bu)位的(de)光(guang)程(cheng)差(cha),nm;
t ——供(gong)試(shi)品被(bei)測部(bu)位通光(guang)處(chu)的(de)總(zong)厚(hou)度(du),mm;
θ ——檢(jian)偏(pian)鏡旋(xuan)轉角(jiao)度(在(zai)測得zui大應力時);
3.14 —— 采(cai)用白(bai)光(guang)光(guang)源(yuan)(有效(xiao)波(bo)長約為565nm)時的(de)常數,檢(jian)偏(pian)鏡每旋(xuan)轉1º 約相當(dang)於(yu)光(guang)程(cheng)差(cha)3.14nm(T=θ×3.14)。
總(zong)結(jie):濟(ji)南(nan)普(pu)創(chuang)偏(pian)光(guang)應力儀(yi)可(ke)對透明(ming)及弱色(se)材(cai)料的(de)雙(shuang)折(zhe)射率進行(xing)檢(jian)測,並通過(guo)Senarmont補償(chang)法計(ji)算出(chu)光(guang)程(cheng)誤(wu)差(cha)不超(chao)過10nm的(de)雙(shuang)折(zhe)射率的(de)值(zhi)。並通過(guo)偏(pian)振(zhen)光(guang)對(dui)雙(shuang)折(zhe)射率的(de)分(fen)布進行(xing)檢(jian)測分析。折射率的(de)分(fen)布和大小(xiao)直接(jie)反應出材(cai)料應力的(de)分(fen)布與(yu)大(da)小(xiao)。各(ge)位(wei)廠家(jia)可(ke)以(yi)根(gen)據濟(ji)南(nan)普(pu)創(chuang)小(xiao)編給出的(de)解(jie)決方案檢(jian)驗儀(yi)器(qi)是否(fou)符(fu)合(he)標(biao)準(zhun)。