多(duo)工位(wei)軟(ruan)包裝袋(dai)無損(sun)密(mi)封試(shi)驗儀

1.高精度(du)測(ce)量(liang):采(cai)用(yong)高精度(du)傳感器和(he)控(kong)制系統(tong)，能(neng)夠(gou)實現(xian)對(dui)微小(xiao)漏氣(qi)量(liang)的(de)精確(que)檢(jian)測(ce)，確保(bao)檢(jian)測(ce)結(jie)果(guo)的準(zhun)確(que)性(xing)。

2.高效(xiao)率測(ce)試:多(duo)工位(wei)設(she)計(ji)，可(ke)檢(jian)測(ce)單個(ge)或者多(duo)組(zu)同(tong)時(shi)檢(jian)測(ce)，也可(ke)以(yi)隨機放(fang)置試樣，能(neng)在較(jiao)短(duan)的(de)時(shi)間(jian)內(nei)對(dui)多(duo)個(ge)密(mi)封件(jian)進(jin)行(xing)測(ce)試，縮短(duan)測(ce)試時(shi)間(jian)，提高測(ce)試效(xiao)率。

3.廣泛適(shi)用(yong)性(xing):可(ke)用(yong)於測(ce)試不(bu)同(tong)材(cai)料和(he)形狀(zhuang)的密(mi)封件(jian)，滿(man)足不(bu)同(tong)企(qi)業的(de)需(xu)求(qiu)。

4.非(fei)破(po)壞性(xing)測(ce)試:傳(chuan)統的(de)密封性(xing)檢(jian)測(ce)方法(fa)往往(wang)需(xu)要破(po)壞樣品，而(er)多(duo)工位(wei)軟(ruan)包裝袋(dai)無損(sun)密(mi)封試(shi)驗儀可(ke)以(yi)在不(bu)損(sun)壞樣品的(de)情況(kuang)下(xia)完(wan)成(cheng)檢(jian)測(ce)，節(jie)省了(le)成(cheng)本(ben)和(he)資(zi)源。

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