妳(ni)的位(wei)置(zhi):首頁 > 技(ji)術(shu)文(wen)章(zhang) > 膜分離測試(shi)儀(yi)測試(shi)原(yuan)理及測試(shi)方(fang)法(fa)
技(ji)術(shu)文(wen)章(zhang)膜分離測試(shi)的(de)主要(yao)目的(de)是(shi)為了(le)評估膜的(de)性(xing)能和確保其(qi)在(zai)實際應用中(zhong)的(de)效果。 通(tong)過膜分離測試(shi),可(ke)以(yi)確(que)定膜的(de)選(xuan)擇透過(guo)性(xing)能、滲透速(su)率(lv)、截留(liu)率(lv)等關(guan)鍵參(can)數,從(cong)而(er)保證膜在(zai)實(shi)際使(shi)用中(zhong)的(de)效果和(he)穩定性(xing)。
本篇文(wen)章(zhang)山(shan)東(dong)普創(chuang)工業科技有限(xian)公司(si)為(wei)您(nin)介紹膜分離測試(shi)儀(yi)的(de)測試(shi)方(fang)法(fa)和(he)原(yuan)理。
檢測儀(yi)器(qi):

MSAT-V1膜分離測試(shi)儀(yi)
膜分離測試(shi)分析儀采用(yong)壓差(cha)法測試(shi)原(yuan)理與(yu)色(se)譜分析技術(shu)相(xiang)結合的(de)測試(shi)方(fang)法(fa),是(shi)當今(jin)市(shi)面(mian)上(shang)壹(yi)款(kuan)可(ke)以(yi)定性(xing)定量(liang)測定單壹(yi)或(huo)混(hun)合試(shi)驗(yan)氣體(ti)各組(zu)分在分離膜中(zhong)的(de)滲透量(liang)、選(xuan)擇性(xing)、以(yi)及(ji)滲透速(su)率(lv)的檢(jian)測設(she)備。
指標 | 薄膜測試(shi) |
測試(shi)方(fang)法(fa) | TCD檢(jian)測器(qi)+色(se)譜標準(zhun)曲線法(fa) |
試樣(yang)厚(hou)度(du) | <1mm |
測試(shi)面(mian)積(ji) | 2 cm2(常(chang)規(gui)),其(qi)他面(mian)積(ji)可(ke)定做 |
控(kong)溫(wen)範圍(wei) | 室溫(wen)℃~90℃(常(chang)規(gui)) |
控溫(wen)精(jing)度(du) | ±0.1℃(常規(gui)) |
試驗(yan)氣(qi)體(ti) | O2、N2、CO、H2、CO2、CH4等(deng)的(de)單壹(yi)或(huo)混(hun)合氣(qi)體(ti) |
試驗氣體(ti)壓(ya)差(cha) | 0 ~ 1.2 MPa |
載氣 | 氦氣(qi) |
載氣(qi)壓(ya)力 | 0 ~ 1.2 MPa |
氣(qi)相(xiang)色(se)譜儀(yi) | 自(zi)動取樣(yang) |
外(wai)形尺(chi)寸 | 690 mm (L) × 350 mm (W) × 380 mm (H)(定制另行(xing)提(ti)供(gong)) |
電(dian)源 | AC (85~264)V (47~63)Hz |
凈(jing)重(zhong) | 70 kg(定制另行(xing)提(ti)供(gong)) |
設(she)備采用壓差(cha)法與(yu)色(se)譜分析技術(shu)相(xiang)結合的(de)測試(shi)原(yuan)理。將預處理(li)好(hao)的試樣在(zai)上(shang)下(xia)測試(shi)腔之間夾(jia)緊(jin),上腔通過(guo)試(shi)驗(yan)氣體(ti),通(tong)過(guo)提(ti)高上腔氣體(ti)壓(ya)力,使(shi)試(shi)樣上(shang)下(xia)側形成(cheng)恒(heng)定的(de)壓(ya)差;當氣(qi)體(ti)透過(guo)試(shi)樣產(chan)生恒定流(liu)量(liang)後,由載(zai)氣(qi)攜帶透過(guo)氣(qi)體(ti)至色(se)譜分析儀。通過(guo)色(se)譜技(ji)術(shu)處理(li),得(de)到分離膜對試驗氣(qi)體(ti)各組(zu)分的滲透量(liang)、選(xuan)擇性(xing)、以(yi)及(ji)滲透速(su)率(lv)的定量(liang)結(jie)果。
試(shi)驗(yan)氣體(ti)滲(shen)透總量(liang): 氣(qi)體(ti)分離膜等(deng)材料(liao)在(zai)條(tiao)件下(xia)對單壹(yi)或(huo)多元混(hun)合氣(qi)體(ti)各組(zu)分的滲透總量(liang)的(de)定性(xing)定量(liang)檢(jian)測
試(shi)驗(yan)氣(qi)體(ti)選(xuan)擇性(xing): 氣體(ti)分離膜等(deng)材料(liao)在(zai)條(tiao)件下(xia)對多元混(hun)合試(shi)驗(yan)氣體(ti)各組(zu)分的分離比例(li)的定性(xing)定量(liang)檢(jian)測
滲(shen)透氣(qi)體(ti)的(de)滲(shen)透速(su)率(lv): 氣體(ti)分離膜等(deng)材料(liao)在(zai)條(tiao)件下(xia)對單壹(yi)或(huo)多元混(hun)合試(shi)驗(yan)氣體(ti)各組(zu)分的滲透速(su)率(lv)的定性(xing)定量(liang)檢(jian)測
專(zhuan) 業(ye)
設(she)備采用壓差(cha)法測試(shi)原(yuan)理與(yu)色(se)譜分析技術(shu)相(xiang)結合的(de)測試(shi)方(fang)法(fa),是(shi)當今(jin)市(shi)面(mian)上(shang)壹(yi)款(kuan)可(ke)以(yi)定性(xing)定量(liang)測定單壹(yi)或(huo)混(hun)合試(shi)驗(yan)氣體(ti)各組(zu)分在分離膜中(zhong)的(de)滲透量(liang)、選(xuan)擇性(xing)、以(yi)及(ji)滲透速(su)率(lv)的檢(jian)測設(she)備。
系統可(ke)進(jin)行(xing)加熱溫(wen)度(du)控制,測定範圍(wei)內任意溫(wen)度(du)下(xia)分離膜的(de)性(xing)能
系統配件均(jun)采用(yong)進(jin)口(kou)元器件,性(xing)能穩定可(ke)靠(kao)
各種(zhong)試(shi)驗參(can)數均可(ke)靈活設(she)定,方(fang)便(bian)用(yong)戶操(cao)作(zuo)
支持(chi)寬(kuan)範圍(wei)電(dian)源輸(shu)入(ru),滿(man)足各種(zhong)條(tiao)件下(xia)的使用
采(cai)用最新(xin)嵌(qian)入式(shi)計(ji)算機系統平(ping)臺,其(qi)技(ji)術(shu)優勢和用(yong)戶體(ti)驗(yan)遠(yuan)超(chao)傳統(tong)單片機。
壹(yi)體(ti)化(hua)系統設(she)計(ji),采用嵌入(ru)式(shi)開發(fa)技(ji)術(shu)將專(zhuan)業(ye)的檢測設(she)備與(yu)控制軟件合二(er)為(wei)壹(yi)。
專(zhuan)用(yong)控制系統從(cong)根本(ben)上(shang)杜絕(jue)了由計(ji)算機病毒(du)、誤(wu)操(cao)作(zuo)等(deng)引(yin)起的系統軟件故(gu)障(zhang),保證了設(she)備運行的可(ke)靠性(xing)與(yu)數據(ju)的(de)安(an)全性(xing)。
系統搭(da)配標準(zhun)顯(xian)示器(qi)、鼠標、鍵盤(pan),采(cai)用Windows操(cao)作(zuo)界面(mian),方(fang)便(bian)用(yong)戶進(jin)行(xing)試驗操(cao)作(zuo)及(ji)數據(ju)展示(shi)。
內嵌3個(ge)USB接口(kou),方便(bian)系統的(de)外(wai)部(bu)接入(ru)和數據(ju)傳(chuan)輸
搭(da)配Paratronix最新(xin)的(de)操(cao)作(zuo)軟件,具(ju)有(you)人性(xing)化的操(cao)作(zuo)界面(mian)和(he)智(zhi)能(neng)化(hua)的(de)數據(ju)處(chu)理功能;
軟件內嵌電(dian)子幫助(zhu)文(wen)檔(dang),方(fang)便(bian)用(yong)戶隨(sui)時查閱
系統支持(chi)中(zhong)英(ying)文(wen)切(qie)換(huan),方(fang)便(bian)不同語言(yan)的用戶使用
用(yong)戶多級權(quan)限(xian)管理,方便(bian)實(shi)驗室管理(li)人(ren)員(yuan)規(gui)範設(she)備使用
采用(yong)嵌入(ru)式(shi)數據(ju)庫(ku)存儲技術(shu),保存每(mei)次試(shi)驗的詳細(xi)信息,並提(ti)供(gong)方便(bian)、多樣的(de)查詢(xun)功能,用戶可按曲線或(huo)數據(ju)列(lie)表等方式(shi)查看(kan)歷(li)史(shi)試驗(yan)數據(ju)