ASTM F1140/F1140M《不受約(yue)束的包(bao)裝的內部加壓(ya)失效(xiao)阻(zu)力的(de)標(biao)準測(ce)試(shi)方(fang)法》

標(biao)準ASTM F1140就(jiu)醫(yi)用(yong)滅(mie)菌(jun)包(bao)裝(zhuang)脹破、蠕(ru)變測(ce)試(shi)方(fang)法，儀(yi)器(qi)配(pei)置(zhi)，制樣(yang)，狀(zhuang)態調節(jie)，試(shi)驗(yan)步(bu)驟(zhou)、試(shi)驗(yan)報(bao)告(gao)作(zuo)了(le)細致(zhi)的描述，同時(shi)細(xi)分測(ce)試(shi)對(dui)象(xiang)為(wei)開口包裝(zhuang)和(he)封(feng)口包裝(zhuang)兩(liang)類(lei)。接下來以(yi)開(kai)口滅(mie)菌(jun)包(bao)裝(zhuang)為例(li)介紹脹(zhang)破/蠕(ru)變壓(ya)力(li)試(shi)驗(yan)過程。

檢測(ce)儀(yi)器(qi)推(tui)薦：LT-03A泄(xie)漏與密(mi)封(feng)強(qiang)度(du)測(ce)試(shi)儀(yi)

試(shi)樣(yang)制備：

首(shou)先選(xuan)取足夠數(shu)量的(de)樣(yang)本(ben)以(yi)檢測(ce)樣(yang)本(ben)的(de)各(ge)項性(xing)能。使(shi)用(yong)有(you)外觀缺(que)陷(xian)或(huo)者其他不正常的(de)樣(yang)本(ben)可(ke)能會(hui)對(dui)試(shi)驗(yan)造(zao)成影響。忽(hu)視樣(yang)本(ben)的(de)缺(que)陷(xian)可(ke)能會(hui)造(zao)成結果的偏(pian)差(cha)。根據ASTM F 1140的指(zhi)導(dao)，制取(qu)至(zhi)少(shao)3個(ge)試(shi)樣(yang)。

測(ce)試(shi)方(fang)法：

(1) 將設(she)備的探針(zhen)小(xiao)心的(de)插入包(bao)裝(zhuang)袋(dai)樣(yang)品的中心位置(zhi)，並確保(bao)插入點(dian)附(fu)近的密(mi)封(feng)良(liang)好，不(bu)會(hui)發(fa)生漏氣。

(2) 開始試(shi)驗(yan)，調節(jie)流(liu)量閥控(kong)制加壓(ya)速(su)度，使氣體(ti)緩(huan)慢(man)充(chong)入樣(yang)品內部，樣(yang)品發生膨脹(zhang)直(zhi)至(zhi)破裂或(huo)漏(lou)氣。

(3) 記(ji)錄(lu)樣(yang)品破裂或(huo)漏(lou)氣時(shi)的(de)壓(ya)力(li)值，並記(ji)錄(lu)破裂或(huo)漏(lou)氣的位置(zhi)。