妳的(de)位置(zhi):首(shou)頁(ye) > 技(ji)術文(wen)章(zhang) > 高性(xing)價比(bi)的(de)真(zhen)空衰減(jian)法密(mi)封(feng)測(ce)試儀(yi)
技(ji)術文(wen)章(zhang)早(zao)年真(zhen)空衰減(jian)設備受(shou)到了(le)國內外(wai)大(da)型(xing)藥企青(qing)睞(lai)預(yu)算,自(zi)從註射(she)劑(ji)壹致性評(ping)價(jia)技(ji)術要(yao)求(qiu)以及CDE包(bao)裝(zhuang)密(mi)封(feng)性(xing)技(ji)術指(zhi)南(nan)推出(chu)後,很(hen)多中(zhong)小型(xing)藥企對此(ci)類設備需(xu)求(qiu)較(jiao)大,然而國內檢測(ce)儀(yi)器(qi)技(ji)術層次不(bu)齊(qi),也(ye)有(you)很(hen)多高(gao)成(cheng)本(ben)讓(rang)很多企業(ye)望(wang)而(er)卻步,由(you)於(yu)預(yu)算不(bu)足,只(zhi)能暫(zan)時(shi)擱置(zhi)項(xiang)目(mu)。我(wo)們(men)普(pu)創(chuang)工科技有(you)限(xian)公司為(wei)了(le)滿足中(zhong)小型(xing)藥企的(de)需(xu)求(qiu),幫(bang)忙他們(men)通(tong)過CDE包(bao)裝(zhuang)密(mi)封(feng)性(xing)審查,推出(chu)針(zhen)對不(bu)同(tong)的(de)訴(su)求(qiu),我(wo)們(men)MLT-V系列選擇性(xing)居(ju)多,不(bu)僅(jin)價(jia)格優且(qie)選(xuan)擇性(xing)很(hen)多,無(wu)論(lun)精度和性價(jia)比(bi)普(pu)遍(bian)受(shou)到客(ke)戶的(de)好(hao)評(ping)。
真(zhen)空衰減(jian)法適用(yong)性(xing)比(bi)較(jiao)廣(guang)泛:
可(ke)以測(ce)負壓(ya)容(rong)器,也(ye)可(ke)以測(ce)常壓(ya)容(rong)器
可(ke)以測(ce)氣漏,也(ye)可(ke)以測(ce)液(ye)漏
軟包(bao)裝(zhuang)和(he)硬(ying)包(bao)裝(zhuang)均(jun)可(ke)
大(da)小頂空均可(ke)測(ce)試
包(bao)裝(zhuang)內部(bu)液(ye)體(ti)導(dao)電(dian)或(huo)不導(dao)電(dian)均(jun)可(ke)檢測(ce)
凍(dong)幹粉(fen)針(zhen)產品(pin)均(jun)可(ke)
技(ji)術要(yao)求(qiu)滿足:
符(fu)合美國藥典(dian)USP1207
符合歐盟(meng)GMP
符(fu)合中(zhong)國GMP
符合註射(she)劑(ji)壹致性評(ping)價(jia)技(ji)術要(yao)求(qiu)
符(fu)合CDE包(bao)裝(zhuang)密(mi)封(feng)性(xing)技(ji)術指(zhi)南(nan)
測(ce)試原理(li):采(cai)用壹(yi)個(ge)高(gao)精度的(de)壓(ya)力傳(chuan)感(gan)器(qi)來監(jian)控(kong)壓力環(huan)境(jing)和(he)壓(ya)力變(bian)化(hua),通(tong)過保壓(ya)壹(yi) 段(duan)時(shi)間的(de)壓(ya)力下降量(liang)來初(chu)步判斷試樣的(de)泄(xie)漏情況, 可(ke)以總(zong)體(ti)判斷試樣的(de)泄(xie)漏情況,也(ye)可(ke)以定(ding)位到泄漏的(de)試樣位置(zhi)。
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