妳(ni)的位(wei)置(zhi):首(shou)頁(ye) > 技(ji)術(shu)文章(zhang) > 氫(qing)能(neng)燃料(liao)電(dian)池(chi)質(zhi)子交換膜氧氣透(tou)氣(qi)率(lv)方(fang)案介(jie)紹(shao)
技(ji)術(shu)文章(zhang)質子交換膜是(shi)PEMFC核心部(bu)件(jian)之(zhi)壹,其主(zhu)要功(gong)能(neng)是 分隔陰(yin)極(ji)和陽(yang)極(ji),以(yi)阻止(zhi)燃(ran)料(liao)(氫(qing)氣)和氧化劑(氧氣)直接(jie)混合發生(sheng)化(hua)學(xue)反應。
這(zhe)種阻隔效果(guo)可通過氣體透(tou)過(guo)率(lv)進(jin)行評估,氣(qi)體透(tou)過(guo)率(lv)越(yue)高,膜的氣(qi)體阻隔性(xing)能(neng)越(yue)差(cha),氫(qing) 氣和氧氣接(jie)觸增多(duo),電(dian)池(chi)兩極(ji)電勢(shi)差(cha)降(jiang)低(di),電池(chi)的開(kai)路電(dian)壓(Open Circuit Voltage , OCV)也隨之(zhi)降(jiang)低(di)。因此,質子(zi)交換膜材(cai)料(liao)的氣(qi)體透(tou)過(guo)率(lv)指(zhi)標(biao)在企(qi)業(ye)監(jian)控(kong)性(xing)能(neng)方(fang)面具(ju)有(you)重(zhong)要(yao)意(yi)義。
檢(jian)測(ce)儀器推薦:GTR-V3氣(qi)體透(tou)過(guo)率(lv)測(ce)試儀

Paratronix普創(chuang)科(ke)技(ji)GTR-V3氣(qi)體透(tou)過(guo)率(lv)測(ce)試儀,是壹(yi)款(kuan)用(yong)於(yu)薄(bo)膜試(shi)樣(yang)的氣(qi)體透(tou)過(guo)率(lv)測(ce)試儀,基於壓差法的測(ce)試(shi)原理(li),適(shi)用(yong)於(yu)塑(su)料(liao)薄(bo)膜、復(fu)合膜、高阻隔材(cai)料(liao)、片(pian)材(cai)、金屬箔(bo)片(pian)在各種溫度(du)下(xia)的氣(qi)體透(tou)過(guo)率(lv)、溶(rong)解度(du)系數(shu)、擴散系(xi)數(shu)、滲(shen)透(tou)系(xi)數(shu)的測(ce)定(ding)。儀器符(fu)合(he)並滿足GBT 20042.3-2022《質(zhi)子(zi)交換膜燃(ran)料(liao)電(dian)池(chi)第(di)3部(bu)分:質子交換膜測(ce)試方(fang)法》標(biao)準中對質(zhi)子交換膜的“氣(qi)體透(tou)過(guo)率(lv)"和“氣(qi)體透(tou)過(guo)系(xi)數(shu)"指標(biao)的測(ce)試(shi)要求,可用(yong)於(yu)檢(jian)測(ce)膜材(cai)的氣(qi)體透(tou)過(guo)性(xing)能(neng),也可用(yong)於(yu)檢(jian)測(ce)材(cai)料(liao)的氫(qing)氣透(tou)過(guo)率(lv)。執(zhi)行GB/T 1038-2000、ISO 15105-1、ISO2556、ASTM D1434、JIS 7126-1、YBB 00082003等(deng)標(biao)準。
壓差法氣(qi)體透(tou)過(guo)率(lv)測(ce)試儀主要(yao)特(te)點
1.具(ju)備(bei)標(biao)準膜校(xiao)正(zheng)功(gong)能(neng)、傳感器(qi)外(wai)校(xiao)功(gong)能(neng); .
2.實時(shi)監(jian)控(kong)測(ce)試(shi)狀態,全(quan)程保(bao)存測試(shi)狀態,實(shi)現測(ce)試全(quan)部數(shu)據(ju)曲線(xian)可復(fu)現,便(bian)於(yu)事後(hou)評估測(ce)試進(jin)程;
3.開(kai)放數(shu)據(ju)庫系統,便(bian)於(yu)數(shu)據(ju)分析(xi)
4.可同時(shi)測(ce)定(ding)試(shi)樣(yang)的氣(qi)體透(tou)過(guo)率(lv)、溶(rong)解度(du)系數(shu)、以(yi)及擴散系(xi)數(shu)
5.三個測(ce)試腔(qiang)獨立(li),可同時(shi)測(ce)試(shi)三種相同或(huo)不(bu)同的試(shi)樣(yang)
6.寬範(fan)圍(wei)、高精度(du)溫濕(shi)度(du)控(kong)制(zhi),滿足各種試驗(yan)條件(jian)下(xia)的測(ce)試(shi)
7.提供比例(li)和模(mo)糊(hu)雙(shuang)重(zhong)試(shi)驗(yan)過程判斷模(mo)式
8.測(ce)試量(liang)程可根(gen)據(ju)需要(yao)進(jin)行(xing)擴(kuo)展,滿足大(da)透(tou)過(guo)率(lv)測(ce)試的要(yao)求
9.可進行(xing)任意溫(wen)度(du)下(xia)的數(shu)據(ju)擬(ni)合(he),輕(qing)松(song)獲(huo)得條件(jian)下(xia)的試(shi)驗(yan)結果(guo)
10.支持(chi)有(you)毒氣體及易燃易爆(bao)氣(qi)體的測(ce)試(shi)(需改制(zhi))
11.系(xi)統采(cai)用(yong)計(ji)算機控(kong)制(zhi),整個試(shi)驗過程自(zi)動完(wan)成(cheng)
12.提(ti)供標(biao)準膜進(jin)行快速(su)校(xiao)準(zhun),保(bao)證(zheng)檢測(ce)數(shu)據(ju)的準(zhun)確性(xing)和通用(yong)性(xing)
13.配(pei)備(bei)RS232通用(yong)數(shu)據(ju)接(jie)口(kou),方(fang)便(bian)數(shu)據(ju)傳遞(di)