妳(ni)的位(wei)置(zhi):首(shou)頁(ye) > 技術(shu)文章(zhang) > 包裝(zhuang)袋耐(nai)壓(ya)試驗儀儀器推薦(jian)
技術(shu)文章(zhang)充(chong)氣,充(chong)液(ye)形式包裝(zhuang)的耐(nai)壓(ya)性能,是(shi)關乎(hu)包裝(zhuang)是(shi)否易(yi)發(fa)生(sheng)破袋的(de)重要(yao)因(yin)素。以(yi)充(chong)氣包裝(zhuang)為例(li),食(shi)品經(jing)過(guo)包裝(zhuang)後,為了節(jie)省空(kong)間(jian)並方便運(yun)輸(shu),壹(yi)般(ban)采(cai)用(yong)堆(dui)碼(ma)的形式進行(xing)存(cun)儲及(ji)運(yun)輸(shu),如此處於(yu)堆(dui)碼(ma)下方(fang)的(de)食(shi)品成品包裝(zhuang)便會(hui)受到上(shang)層食(shi)品包裝(zhuang)所帶(dai)來的(de)壓(ya)力(li)。
充(chong)氣包裝(zhuang)是(shi)壹種(zhong)常(chang)見(jian)的食(shi)品包裝(zhuang)形式,可以(yi)保護包裝(zhuang)內(nei)部(bu)的食(shi)品不(bu)發(fa)生變(bian)形、破碎等(deng),對於(yu)充(chong)氮(dan)包裝(zhuang)來說,還(hai)可以(yi)使食(shi)品處於(yu)壹(yi)種(zhong)低氧(yang)環境(jing)中,具有(you)防(fang)止(zhi)食(shi)品氧(yang)化(hua)變(bian)質、發黴(mei)等(deng)作用,然(ran)而包裝(zhuang)中充(chong)填的氣體(ti)是(shi)有兩(liang)面(mian)性的,在(zai)對食(shi)品起(qi)到(dao)保護作用的同(tong)時(shi)
在(zai)受外力(li)擠壓(ya)或(huo)沖(chong)撞(zhuang)時(shi)會(hui)對包裝(zhuang)袋產(chan)生(sheng)較(jiao)大的沖(chong)擊(ji)力,要(yao)求(qiu)包裝(zhuang)袋具(ju)有更高(gao)的柔(rou)韌(ren)性及封口牢(lao)度(du),故(gu)而加(jia)強對充(chong)氣包裝(zhuang)耐壓(ya)性能的測(ce)試,可有效降低包裝(zhuang)在(zai)堆(dui)碼(ma)、運(yun)輸(shu)過(guo)程(cheng)中的破袋率(lv)。
本(ben)產(chan)業(ye)用(yong)於(yu)檢測(ce)食品醬(jiang)料包(方(fang)便面(mian)醬(jiang)包、番(fan)茄(qie)醬(jiang)包、沙(sha)拉(la)包、蔬菜包、果(guo)醬(jiang)包、奶油(you)包等(deng))的(de)抗(kang)壓(ya)測(ce)試。可壹次檢測(ce)6件成品醬(jiang)料包。試驗項目:觀(guan)察定(ding)壓(ya)強(qiang)、定(ding)時(shi)間(jian)下試樣的泄露及破損(sun)情(qing)況(kuang)。
測(ce)試儀器:

測(ce)試原理
該設備(bei)由(you)觸(chu)摸(mo)式微(wei)電(dian)腦控(kong)制(zhi),通(tong)過調(tiao)節(jie)減壓(ya)閥(fa)使氣缸(gang)達到預(yu)期(qi)的(de)壓(ya)力(li),由(you)微(wei)電(dian)腦進行(xing)計(ji)時(shi)、控(kong)制(zhi)電(dian)磁(ci)閥的(de)換(huan)向,控(kong)制(zhi)試樣壓(ya)板(ban)上(shang)下動(dong)作,觀察試樣在(zai)壹定(ding)壓(ya)強(qiang)(壓(ya)力(li))和(he)時(shi)間(jian)下的密(mi)封狀況。
測(ce)試過程(cheng):
1. 試樣準備(bei):根(gen)據(ju)測(ce)試模式,準備(bei)足夠(gou)數(shu)量的(de)樣塊和(he)試樣;
2. 測(ce)試步驟:點(dian)擊(ji)開始試驗,試驗到達保壓(ya)時(shi)間(jian)後,氣缸(gang)自動(dong)升(sheng)起(qi),觀察試樣破裂情(qing)況(kuang),按(an)照(zhao)破裂情(qing)況(kuang)點(dian)擊(ji)醬料包圖(tu)標,點(dian)擊(ji)按(an)鍵(jian),試驗結(jie)束(shu)。