偏(pian)光(guang)應(ying)力儀(yi)標(biao)準及(ji)原理

    偏(pian)光(guang)應(ying)力儀(yi)，也(ye)稱(cheng)玻璃(li)制(zhi)品(pin)應(ying)力檢(jian)查儀(yi)，是(shi)應(ying)用(yong)偏(pian)振(zhen)光(guang)幹涉原理檢(jian)查玻璃(li)內應(ying)力或晶(jing)體雙折(zhe)射效(xiao)應(ying)的(de)儀(yi)器(qi)。由(you)於儀(yi)器(qi)備(bei)有靈敏色片，並(bing)應(ying)用(yong)1/4波(bo)片補(bu)償方法(fa)，因此(ci)數顯偏(pian)光(guang)應(ying)力儀(yi)不僅(jin)可以(yi)根據偏(pian)振(zhen)場(chang)中(zhong)的(de)幹涉色序定性或半(ban)定量(liang)地測量(liang)玻璃(li)的(de)內應(ying)力，還可(ke)以(yi)準確定量(liang)測量(liang)玻璃(li)制(zhi)品(pin)的內應(ying)力數值(zhi)。

    數顯偏(pian)光(guang)應(ying)力儀(yi)采(cai)用(yong)高(gao)清(qing)晰LED數字顯示屏直接(jie)顯示測量(liang)數據，可以(yi)同(tong)時顯示測量(liang)角(jiao)度(du)和(he)光程差數值(zhi)，使測量(liang)直觀易(yi)讀(du)。

    本儀(yi)器(qi)適合(he)光(guang)學(xue)儀(yi)器(qi)廠(chang)、玻璃(li)廠(chang)、玻璃(li)制(zhi)品(pin)廠(chang)、玻璃(li)儀(yi)器(qi)廠(chang)、實(shi)驗(yan)室使用(yong)，用(yong)於(yu)測量(liang)各類(lei)玻璃(li)制(zhi)品(pin)、光學(xue)玻璃(li)、透(tou)明塑(su)料制(zhi)品(pin)及(ji)其它(ta)光學(xue)材(cai)料應(ying)力值(zhi)的測量(liang)。

    本儀(yi)器(qi)可用(yong)於(yu)判定透(tou)明註(zhu)塑(su)制(zhi)品(pin)殘余(yu)應(ying)力分(fen)布(bu)，有助於(yu)優(you)化(hua)模具設(she)計(ji)及(ji)提高註(zhu)塑(su)工(gong)藝。

測試(shi)儀(yi)器(qi)：

 符合(he)標(biao)準

數顯偏(pian)光(guang)應(ying)力儀(yi)在出(chu)廠(chang)前(qian)已(yi)嚴(yan)格(ge)調試(shi)，開機(ji)即(ji)可使(shi)用(yong)，符合(he)或滿(man)足(zu)如(ru)下(xia)標(biao)準（包括但(dan)不限(xian)於(yu)）的要求(qiu)：

l GB/T 4545  《玻璃(li)瓶(ping)罐內應(ying)力檢(jian)驗方法(fa)》

l GB/T 12415 《藥用(yong)玻璃(li)容(rong)器內應(ying)力檢(jian)驗方法(fa)》

l GB/T 15726 《玻璃(li)儀(yi)器(qi)內應(ying)力檢(jian)驗方法(fa)》

l GB/T 18144 《玻璃(li)應(ying)力測試(shi)方法(fa)》

l YBB00162003 《國家(jia)藥品(pin)包裝(zhuang)容(rong)器（材(cai)料）方法(fa)標(biao)準內應(ying)力測定法(fa)》

l JC/T 655   《石(shi)英玻璃(li)制(zhi)品(pin)內應(ying)力檢(jian)驗方法(fa)》

l JC/T 915   《熱彎(wan)玻璃(li)》

l ASTM C148 (Standard Test Methods for Polariscopic Examination of Glass Containers)（玻璃(li)容(rong)器偏(pian)振(zhen)鏡(jing)檢(jian)查的試(shi)驗方法(fa)）

測量(liang)原理

1定性測量(liang)原理

（1） 在正(zheng)交的(de)起(qi)偏(pian)鏡(jing)與檢(jian)偏(pian)鏡(jing)之間放(fang)入(ru)雙折(zhe)射物(wu)質(zhi)，視場(chang)中(zhong)便會(hui)出(chu)現(xian)幹涉色，壹定的(de)幹涉色對(dui)應(ying)於(yu)壹(yi)定的(de)雙折(zhe)射光(guang)程差，其關(guan)系如(ru)表(biao)（壹(yi)）所(suo)示。

位於起(qi)偏(pian)鏡(jing)與檢(jian)偏(pian)鏡(jing)之間的(de)全(quan)波片，其(qi)雙折(zhe)射光(guang)程差為565納(na)米(mi)（nm），由(you)表(biao)（壹(yi)）可查到視場(chang)中(zhong)的(de)幹涉色為紫(zi)紅色。

如(ru)果在正(zheng)交偏(pian)振(zhen)鏡(jing)之間除(chu)了(le)全波(bo)片以(yi)外再(zai)加試(shi)件，則二(er)者的(de)組合(he)程(cheng)差δ′將大於或小於565納米(mi)，幹涉色也(ye)將相應(ying)地發生變(bian)化(hua)。根據幹涉色查表(biao)（壹(yi)）得到組合(he)的(de)光(guang)程(cheng)差δ′數值(zhi)，由(you)下(xia)面(mian)公(gong)式可(ke)標(biao)出(chu)附(fu)加(jia)試(shi)件的(de)光(guang)程差δ：

1、當(dang)附(fu)加(jia)試(shi)件的(de)快(kuai)軸(zhou)與全(quan)波片的(de)快(kuai)軸(zhou)互相平(ping)行(xing)時：

 δ= δ′- 565（納(na)米(mi)）———————（公(gong)式 ①）

2、當(dang)附(fu)加(jia)試(shi)件的(de)快(kuai)軸(zhou)與全(quan)波片的(de)慢(man)軸(zhou)互相平(ping)行(xing)時：

   δ= 565 -δ′（納(na)米(mi)）———————（公(gong)式 ②）

（2）有應(ying)力的玻璃(li)試(shi)件也(ye)是(shi)雙折(zhe)射物(wu)質(zhi)，將這樣的試(shi)件放(fang)入(ru)應(ying)力檢(jian)查光路中也(ye)會(hui)引起幹涉色的變(bian)化(hua)，就(jiu)象上面(mian)所(suo)講(jiang)附(fu)加(jia)試(shi)件放(fang)入(ru)光路(lu)的(de)情形(xing)壹(yi)樣，只是(shi)由(you)於玻璃(li)試(shi)件應(ying)力不是(shi)均(jun)勻(yun)分(fen)布(bu)的(de)。因此(ci)，試(shi)件各點(dian)雙折(zhe)射光(guang)程差也(ye)不壹(yi)致(zhi)，結果視場(chang)中(zhong)各點(dian)的(de)幹涉色變化(hua)情況(kuang)也(ye)不相同。但(dan)對(dui)於試(shi)件中(zhong)某(mou)壹確(que)定的(de)點(dian)來(lai)說(shuo)按(an)上述方法(fa)【查表(biao)（壹(yi)）得δ′後用(yong)公(gong)式①②計(ji)算(suan)】同(tong)樣(yang)可(ke)求得其(qi)光(guang)程差δ。

（3）當(dang)被(bei)測玻璃(li)試(shi)件的(de)雙折(zhe)射光(guang)程差較(jiao)大（例如(ru)，光程(cheng)差大於(yu)300納米(mi)）時；即(ji)使沒有全波(bo)片，也(ye)可(ke)以進行(xing)測量(liang)。這(zhe)時將被測試(shi)件放(fang)在正(zheng)交起(qi)偏(pian)鏡(jing)和檢(jian)偏(pian)鏡(jing)之間，可(ke)以(yi)看到明顯的(de)幹涉色，根據表(biao)（壹(yi)）即可查出(chu)被(bei)測試(shi)件光(guang)程(cheng)差數值(zhi)。

2定量(liang)測量(liang)原理（Senarmont 補(bu)償法(fa)）

（1）由(you)光源（7）發出的(de)白光(guang)，通過起(qi)偏(pian)鏡(jing)（14），光線(xian)形(xing)成(cheng)線偏(pian)振(zhen)光(guang)。線(xian)偏(pian)振(zhen)光(guang)通過有雙折(zhe)射光(guang)程差的被(bei)測玻璃(li)試(shi)件（18）和(he)1/4波(bo)片後其(qi)振(zhen)動(dong)方向(xiang)將旋轉壹(yi)個(ge)角(jiao)度(du)，角(jiao)度(du)θ的(de)數值(zhi)（單位為度(du)）與(yu)被測試(shi)件的(de)雙折(zhe)射光(guang)程差δ成正(zheng)比，其關(guan)系(xi)式(shi)：

即,當(dang)旋轉角(jiao)度(du)θ=1°時，光(guang)程差

δ=3.14×θ=3.14(nm)   -----------（公(gong)式 ③）

如(ru)果被測試(shi)件不在光(guang)路中(zhong)，當(dang)檢(jian)偏(pian)鏡(jing)處（3）於(yu)零位時，起(qi)偏(pian)鏡(jing)發出的(de)線(xian)偏(pian)振(zhen)光(guang)完(wan)quan不能通過檢(jian)偏(pian)鏡(jing)，因此(ci)觀測者(zhe)看到暗(an)視場(chang)。現(xian)在由(you)於被測試(shi)件和(he)1/4波(bo)片的(de)作(zuo)用(yong)使(shi)線偏(pian)振(zhen)光(guang)旋轉了(le)θ角。顯然(ran)檢(jian)偏(pian)鏡(jing)也(ye)必(bi)須作(zuo)相應(ying)的(de)旋轉才(cai)能恢復暗(an)場。這(zhe)時由(you)角度(du)編(bian)碼器（4）測得的(de)旋轉角(jiao)度(du)值(zhi)（檢(jian)偏(pian)鏡(jing)每旋轉1°相當(dang)於(yu)光(guang)程(cheng)差3.14 納米(mi)），可(ke)以代入(ru)由(you)公(gong)式③即(ji)可算(suan)出(chu)被(bei)測試(shi)件的(de)光(guang)程差δ（光程(cheng)差也(ye)可(ke)以直接(jie)從顯示窗(chuang)讀(du)出(chu)）。

玻璃(li)試(shi)樣內部的應(ying)力分(fen)布(bu)不是(shi)均(jun)勻(yun)壹(yi)致(zhi)的(de)，與(yu)此相對(dui)應(ying)，試(shi)件各部(bu)位的雙折(zhe)射光(guang)程差也(ye)是(shi)不壹(yi)致(zhi)的(de)。因此(ci)，測量(liang)試(shi)件中(zhong)不同(tong)部(bu)位，將得到不同(tong)的(de)光(guang)程(cheng)差數值(zhi)。

山東普(pu)創工(gong)業(ye)科(ke)技(ji)有限(xian)公(gong)司是(shi)壹(yi)家(jia)專(zhuan)業(ye)從事(shi)包檢(jian)測理論(lun)研(yan)究與檢(jian)測硬件開發並具(ju)有獨立的(de)自(zi)主知(zhi)識產(chan)權(quan)的高科(ke)技(ji)企業(ye)。產(chan)品(pin)廣泛服(fu)務(wu)於(yu)國(guo)家(jia)質(zhi)檢(jian)藥檢(jian)機構(gou)、印刷(shua)、包裝(zhuang)、醫藥、日(ri)化(hua)、科(ke)研院校(xiao)、食(shi)品(pin)、醫藥、化(hua)工(gong)、新能源、新材料等(deng)領域(yu)。想(xiang)了解(jie)更多(duo)詳細(xi)資(zi)料請(qing)多(duo)多(duo)關註(zhu)我們！