真(zhen)空(kong)衰(shuai)減法檢(jian)漏

     標(biao)準(zhun)機(ji)構(gou) ASTM 制(zhi)定(ding)了(le)詳(xiang)細(xi)說(shuo)明(ming)大多數(shu) CCIT 方(fang)法的文(wen)件，以(yi)幫(bang)助(zhu)制(zhi)造商制(zhi)定(ding)合規的測(ce)試(shi)策略。雖然 ASTM 標(biao)準(zhun)不(bu)是(shi)法律(lv)規定(ding)的，但它們被認(ren)為(wei)符(fu)合監管要求。他們還向(xiang)審(shen)計(ji)員保(bao)證(zheng)測(ce)試(shi)是(shi)按照(zhao)標(biao)準(zhun)化/批準(zhun)的(de)方(fang)法進行的(de)。MLT-V100（T） 微(wei)泄漏無損密封(feng)測(ce)試(shi)儀是(shi)根(gen)據標(biao)準(zhun)《ASTM F2338 包(bao)裝泄露(lu)的標(biao)準(zhun)檢(jian)測(ce)方(fang)法—真(zhen)空(kong)衰(shuai)減法》研發(fa)的(de)壹款(kuan)專業(ye)用(yong)於(yu)醫藥(yao)包(bao)裝，食品(pin)包(bao)裝微泄(xie)漏檢(jian)測(ce)的專(zhuan)業(ye)設備(bei)。

     大多數(shu)概(gai)率測(ce)試(shi)都(dou)是(shi)破壞(huai)性的(de)，這(zhe)意味著樣(yang)品(pin)不能重(zhong)復(fu)使用(yong)，從而(er)產生大量的(de)產品(pin)損失、浪(lang)費(fei)和混(hun)亂。概(gai)率方(fang)法也(ye)是(shi)定(ding)性的(de)，產生的(de)結果(guo)取決(jue)於(yu)技(ji)術(shu)、樣(yang)品(pin)制(zhi)備(bei)和操(cao)作員的(de)可變(bian)性，這(zhe)使得它(ta)們既(ji)耗時又(you)不可靠(kao)。因為(wei)大多數(shu)確(que)定(ding)性測(ce)試(shi)可以(yi)是(shi)非破(po)壞(huai)性的(de)，它(ta)們可以(yi)隨(sui)著時(shi)間的推(tui)移(yi)重(zhong)復(fu)進行，以(yi)提(ti)供樣品(pin)泄漏率(lv)的(de)定(ding)量測(ce)量，因為(wei)它(ta)們不會使容(rong)器(qi)內通(tong)常(chang)昂(ang)貴的產品(pin)無法使用(yong)。它(ta)們也(ye)較少(shao)受(shou)人為(wei)錯誤的影響，因為(wei)它(ta)們使用(yong)經過驗證(zheng)的(de)測(ce)試(shi)設(she)備(bei)來獲得客(ke)觀的(de)泄(xie)漏測(ce)量值。

     新(xin) USP 指南(nan)的發(fa)布(bu)表(biao)明(ming)了(le)對(dui)確(que)定(ding)性、非(fei)破(po)壞(huai)性方(fang)法的明(ming)顯偏(pian)好(hao)。確定(ding)性測(ce)試(shi)是(shi)真(zhen)空(kong)衰(shuai)減、壓(ya)力(li)衰(shuai)減、基(ji)於(yu)激(ji)光的(de)頂(ding)空(kong)分析、HVLD 和示蹤氣體(ti)分析。

     隨(sui)著仿(fang)制(zhi)藥(yao)醫(yi)學(xue)指(zhi)令 (FMD)的生效(xiao)，實現(xian)序列(lie)化的(de)要(yao)求進壹步推(tui)動(dong)了(le)采用(yong)確(que)定(ding)性方(fang)法。投資(zi)於(yu)跟蹤和追(zhui)溯(su)系統(tong)的(de)制(zhi)藥(yao)公(gong)司(si)希(xi)望(wang)能夠(gou)確定(ding)批次中的單個(ge)包(bao)裝是(shi)否經過泄漏測(ce)試(shi)，以(yi)便(bian)在召(zhao)回時(shi)可以(yi)獲(huo)得這(zhe)些(xie)數(shu)據。

   今(jin)天針(zhen)對(dui)以(yi)上(shang)常用(yong)的(de)真(zhen)空(kong)衰(shuai)減法測(ce)試(shi)儀MLT-V100我(wo)們來做個(ge)簡單(dan)的介(jie)紹(shao)！

    MLT-V100（T） 微(wei)泄漏無損密封(feng)測(ce)試(shi)儀采(cai)用(yong)真(zhen)空(kong)無損測(ce)試(shi)方(fang)案，擴(kuo)展(zhan)為(wei)正(zheng)負(fu)壓雙(shuang)測(ce)量法，雙(shuang)傳感器、雙(shuang)腔測(ce)試(shi)技(ji)術(shu)，基(ji)於(yu)WINDOWS系統(tong)開(kai)發，可適(shi)用(yong)於(yu)各種(zhong)空的/預(yu)充(chong)式註射器(qi)，水針及(ji)粉(fen)針(zhen)瓶（玻璃/塑料）、灌裝壓蓋(gai)瓶(ping)、以(yi)及(ji)其他硬(ying)質(zhi)包(bao)裝容(rong)器(qi)、電(dian)器(qi)元件等試(shi)樣(yang)的無損正、負(fu)壓的(de)微(wei)泄(xie)漏測(ce)試(shi)。

負(fu)壓法測(ce)試(shi)：

連接(jie)真(zhen)空(kong)泵提供氣(qi)源動(dong)力(li)，制(zhi)造標(biao)準(zhun)腔和測(ce)試(shi)腔同(tong)等壓力(li)環境(jing)，通(tong)過檢(jian)測(ce)測(ce)試(shi)腔在負(fu)壓環(huan)境(jing)下(xia)的壓力(li)變(bian)化，判斷(duan)試(shi)樣(yang)的泄(xie)漏特性。

正壓(ya)法測(ce)試(shi)：

連接(jie)壓縮空寂提供氣源動(dong)力(li)，制(zhi)造標(biao)準(zhun)腔和測(ce)試(shi)腔同(tong)等壓力(li)環境(jing)，通(tong)過檢(jian)測(ce)測(ce)試(shi)腔在正壓環(huan)境下的壓力(li)變(bian)化，判斷(duan)試(shi)樣(yang)的泄(xie)漏特性。