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          薄膜(mo)測(ce)厚儀的(de)測(ce)試(shi)原(yuan)理

             薄膜(mo)測(ce)厚儀采用機械接觸(chu)式(shi)測(ce)量方(fang)式(shi)嚴(yan)格(ge)符合標準(zhun)要(yao)求有效保(bao)證了測(ce)試(shi)的(de)規(gui)範(fan)性和(he)準確性。專業適用於(yu)量程(cheng)範(fan)圍(wei)內的(de)塑料(liao)薄膜(mo)、薄片、隔(ge)膜(mo)、紙張(zhang)、箔片(pian)、矽片(pian)等(deng)各(ge)種(zhong)材(cai)料(liao)的(de)厚度(du)精(jing)確測(ce)量。
            薄(bo)膜(mo)測(ce)厚儀是(shi)壹(yi)款高精(jing)度(du)、高(gao)重(zhong)復性(xing)的(de)機械接觸(chu)精(jing)密(mi)測(ce)厚儀,專業適用於(yu)薄膜、片(pian)材、紙張(zhang)、瓦楞紙板、紡(fang)織材料(liao)、無紡(fang)布、固(gu)體(ti)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)等(deng)範(fan)圍(wei)內材料(liao)的(de)精密(mi)測(ce)厚。儀器(qi)嚴(yan)格(ge)按(an)照(zhao)相(xiang)關(guan)標(biao)準要求(qiu)設計制造,采用機械接觸(chu)測(ce)試(shi)原(yuan)理。非常適用於(yu)薄膜材(cai)料(liao)的(de)高精(jing)度(du)厚(hou)度(du)測(ce)量,是(shi)企(qi)業控制產品厚(hou)度(du)技術(shu)指(zhi)標(biao)質量的(de)主要儀器(qi)。
            該(gai)儀器(qi)的(de)測(ce)試(shi)原(yuan)理是(shi):將預處(chu)理過的(de)薄樣(yang)品(pin)的(de)壹(yi)側放在(zai)下測(ce)量面(mian)上(shang),上(shang)測(ce)量面(mian)與(yu)下測(ce)量面(mian)平行(xing)並對(dui)準(zhun)中(zhong)心(xin),然(ran)後落(luo)在(zai)薄(bo)樣(yang)品(pin)的(de)另(ling)壹(yi)側上(shang)壹(yi)定的(de)壓力(li),與(yu)測(ce)量頭(tou)集成(cheng)的(de)傳(chuan)感(gan)器(qi)自(zi)動檢(jian)測(ce)上(shang)下測(ce)量面(mian)之間的(de)距(ju)離(li),即薄樣(yang)品(pin)的(de)厚度(du)。
            薄(bo)膜測(ce)厚儀嚴(yan)格(ge)按(an)照(zhao)標準接觸面積(ji)和測(ce)量壓(ya)力(li)設計,支持(chi)各(ge)種(zhong)非標定制。測(ce)試(shi)過程(cheng)中(zhong)測(ce)頭自(zi)動升降,有效避免(mian)人(ren)為因(yin)素造成(cheng)的(de)系(xi)統誤差(cha),可(ke)選(xuan)系(xi)統自(zi)動註(zhu)入(ru)樣品(pin)。采樣(yang)步(bu)長、測(ce)點數(shu)量、采(cai)樣(yang)速(su)度(du)等(deng)相(xiang)關(guan)參(can)數(shu)可由用戶設置(zhi),並實時顯(xian)示(shi)測(ce)量結果的(de)最大(da)值、最小值、平均(jun)值、標準(zhun)偏差(cha)等(deng)分(fen)析數(shu)據方(fang)便(bian)用戶判(pan)斷(duan)。更(geng)多(duo)關於(yu)薄膜測(ce)厚儀可以關(guan)註(zhu)我們的(de)網(wang)站(zhan),還有什(shen)麽(me)想要了解(jie)的(de)內容(rong),可以給(gei)小編留(liu)言告(gao)訴(su)小編哦(o),小編整(zheng)理好(hao)內容(rong),下期(qi)新(xin)聞再跟大家見面(mian)!


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