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技術文(wen)章真空衰減(jian)法(fa)密封儀適用(yong)於各種(zhong)產(chan)品和包(bao)裝形(xing)式(shi),尤其(qi)適(shi)用(yong)於測(ce)試容(rong)器填(tian)充幹(gan)產(chan)品(凍幹西林瓶(ping)、粉末(mo)填(tian)充)的(de)氣(qi)漏以(yi)及(ji)測(ce)試液漏(非(fei)蛋(dan)白質基(ji)質(zhi)的(de)液體填(tian)充西(xi)林(lin)瓶(ping)、預灌(guan)封註射(she)器),*符合(he)ASTM測(ce)試方法(fa)和FDA標(biao)準(zhun)
真空衰減(jian)法(fa)密封儀快(kuai)速(su)精(jing)準(zhun)無(wu)損測(ce)試瓶(ping)泄漏測(ce)試是(shi)很(hen)多制(zhi)藥單(dan)位(wei)和質(zhi)檢(jian)單(dan)位的(de)選擇。下(xia)面我(wo)們針(zhen)對無損檢(jian)測(ce)做(zuo)個(ge)簡(jian)單的文(wen)案(an)。
檢(jian)測(ce)儀(yi)器:MLT-V100

真(zhen)空衰減(jian)法(fa)原理:
由主(zhu)機和測(ce)試腔(qiang)體(ti)組成(cheng),將待測(ce)包(bao)裝容(rong)器放(fang)入(ru)測(ce)試腔(qiang)體(ti),對測(ce)試腔(qiang)體(ti)抽真空,容器內(nei)外壓(ya)差使(shi)得(de)容器內(nei)氣(qi)體通(tong)過漏孔進(jin)入(ru)測(ce)試腔(qiang)體(ti),真空衰減(jian)法(fa)檢(jian)漏儀內(nei)的壓(ya)力傳感(gan)器監(jian)測(ce)到(dao)壓(ya)力的(de)改變,將該壓(ya)力值(zhi)和參(can)考(kao)壓(ya)力值(zhi)做(zuo)比(bi)較(jiao),以(yi)判定包(bao)裝容(rong)器是(shi)否泄漏。
真空衰減(jian)法(fa)密封儀檢(jian)測(ce)微小漏孔,尤其(qi)是(shi)廣(guang)泛(fan)用於醫(yi)藥包(bao)裝產(chan)品的完整性檢(jian)測(ce),可(ke)檢(jian)測(ce)產(chan)品包(bao)括(kuo)泡(pao)罩(zhao)包(bao)裝產(chan)品,空註射(she)器,預(yu)灌封註射(she)器,液體西(xi)林瓶(ping),凍幹粉西林(lin)瓶(ping)及(ji)其(qi)他(ta)液態灌(guan)封包(bao)裝等。