仿制(zhi)藥（註射(she)劑(ji)）壹(yi)致性評(ping)價技術真空(kong)衰(shuai)減法密(mi)封性(xing)檢(jian)測(ce)

   包(bao)裝系統密(mi)封性(xing)（package integrity），又(you)稱容器(qi)密(mi)封完(wan)整(zheng)性（container–closure integrity），是(shi)指(zhi)包(bao)裝系統防(fang)止(zhi)內容物(wu)損(sun)失(shi)、微(wei)生(sheng)物(wu)侵(qin)入(ru)以(yi)及氣體(ti)（氧(yang)氣、空(kong)氣、水蒸氣等）或(huo)其(qi)他(ta)物(wu)質(zhi)進(jin)入，保證藥品持續符合(he)安全與(yu)質(zhi)量要求的能力。包(bao)裝系統密(mi)封性(xing)檢(jian)查（package integrity test），或(huo)稱為容器(qi)密(mi)封完(wan)整(zheng)性檢(jian)查（container–closure integrity test, CCIT），是(shi)指(zhi)檢(jian)測(ce)任(ren)何破(po)裂(lie)或(huo)縫隙的(de)包(bao)裝泄漏檢(jian)測(ce)（包(bao)括(kuo)理(li)化或(huo)微(wei)生(sheng)物(wu)檢(jian)測(ce)方(fang)法），壹些檢(jian)測(ce)可(ke)以(yi)確(que)定泄漏的尺寸(cun)和(he)/或(huo)位(wei)置(zhi)。

測(ce)試設(she)備

測(ce)試原(yuan)理(li)：

通過標準(zhun)腔(qiang)與(yu)測(ce)試腔(qiang)的(de)壓力(li)比(bi)對，來判定測(ce)試腔(qiang)是(shi)否(fou)存(cun)在氣體(ti)泄漏。基準(zhun)容器(qi)和被(bei)測(ce)容器(qi)都是(shi)確(que)保密(mi)封不存(cun)在泄漏的，將(jiang)試樣(yang)放(fang)入被(bei)測(ce)容器(qi)後(hou)，由(you)於(yu)試樣(yang)的(de)氣體(ti)泄漏導(dao)致被(bei)測(ce)容器(qi)的壓(ya)力(li)變(bian)化(hua)，通過差(cha)壓傳(chuan)感器(qi)檢(jian)測(ce)到(dao)壓(ya)力的(de)變(bian)化(hua)量，再通過公(gong)式(shi)計算(suan)可(ke)推(tui)導(dao)出(chu)泄漏孔徑和泄漏流量。

試驗流程(cheng)

1. 將(jiang)試樣(yang)放(fang)入測(ce)試腔(qiang)體(ti)，根(gen)據設定的目(mu)標真空(kong)度對測(ce)試腔(qiang)進(jin)行抽真空(kong)。在“壹(yi)定的時(shi)間內"到(dao)達設定的真空(kong)度，則(ze)判斷試樣(yang)無(wu)大(da)泄露(lu)，反之(zhi)則判斷為不合(he)格。

2. 設定平衡時(shi)間、臨(lin)界值。在設(she)定的保壓時(shi)間內真空(kong)度降不到(dao)設(she)定的臨(lin)界值，則判斷試樣(yang)無(wu)中泄露(lu)，反之(zhi)則判斷為不合(he)格。

3. 設定測(ce)試時(shi)間。在測(ce)試時(shi)間內試驗壓力降不到(dao)參(can)考(kao)壓力(li)值，並(bing)且壓力(li)衰(shuai)減值小(xiao)於參(can)考(kao)壓力(li)衰(shuai)減值，則判斷試樣(yang)無(wu)微(wei)泄露(lu)，反之(zhi)則判斷不合(he)格。

驗證方法

1. 制(zhi)作標(biao)準(zhun)試樣(yang)，標(biao)準(zhun)試樣(yang)分(fen)為陰性試樣(yang)和(he)陽(yang)性(xing)試樣(yang)。

2. 陰性試樣(yang)為無(wu)泄漏的實體(ti)，外形尺寸(cun)根(gen)據用戶(hu)要求制(zhi)作，主(zhu)要作(zuo)用是(shi)標(biao)定真空(kong)衰(shuai)減率(lv)、陰性試驗對照(zhao)。

3. 陽(yang)性(xing)試樣(yang)是(shi)具(ju)有(you)壹(yi)定漏孔的樣品，陽(yang)性(xing)試樣(yang)可(ke)以(yi)有(you)效(xiao)的(de)驗證實際產品在檢(jian)測(ce)過程(cheng)中(zhong)的泄漏等級，是(shi)驗證產品泄漏的重要參(can)照(zhao)項(xiang)。激(ji)光打孔(kong)是(shi)比(bi)較常(chang)見(jian)的(de)制(zhi)備陽(yang)性(xing)試樣(yang)的(de)方法之壹(yi)，可(ke)在空(kong)瓶瓶(ping)體(ti)上(shang)加(jia)工直(zhi)徑5μm、10μm、50μm、100μm的孔(kong)，瓶口(kou)用(yong)膠(jiao)塞及瓶蓋(gai)封(feng)口(kou)；也(ye)可(ke)以(yi)制(zhi)作壹(yi)定漏孔的瓶蓋(gai)，並(bing)用此(ci)瓶(ping)蓋(gai)封(feng)住瓶口(kou)。