薄(bo)膜測(ce)厚(hou)儀是壹種(zhong)常用(yong)的薄(bo)膜厚(hou)度(du)檢(jian)測(ce)方(fang)法，采(cai)用(yong)機械接觸式(shi)測量標準(zhun)，適(shi)用(yong)於2mm範(fan)圍內各種薄(bo)膜、復(fu)合(he)膜(mo)、紙(zhi)張、金(jin)屬(shu)箔(bo)片等(deng)硬質(zhi)和(he)軟(ruan)質(zhi)材(cai)料(liao)厚(hou)度(du)準確(que)測量，誤差(cha)小(xiao)，操作簡(jian)單(dan)方(fang)便(bian)，滿足(zu)GB/T 6672《薄(bo)膜和(he)薄(bo)片厚(hou)度(du)測定(ding) 機(ji)械(xie)測量法》等(deng)標(biao)準(zhun)。 薄(bo)膜的(de)厚(hou)度(du)指(zhi)的(de)是(shi)基片表(biao)面和(he)薄(bo)膜表(biao)面的(de)距(ju)離(li)。對於微(wei)電(dian)子薄(bo)膜而(er)言，如(ru)光學(xue)薄(bo)膜，抗(kang)氧(yang)化(hua)薄(bo)膜，巨(ju)磁電(dian)阻(zu)薄(bo)膜，高溫超(chao)導(dao)薄(bo)膜等(deng)，其(qi)厚(hou)度(du)是壹(yi)個非(fei)常(chang)重(zhong)要的(de)參(can)數(shu)，直接關(guan)系到(dao)該薄(bo)膜材(cai)料(liao)能否正常工(gong)作。除此(ci)之(zhi)外，薄(bo)膜的(de)厚(hou)度(du)也(ye)會(hui)直(zhi)接影(ying)響到(dao)薄(bo)膜材(cai)料(liao)的(de)力學(xue)性能，透(tou)光性能，磁性能，熱(re)導(dao)率(lv)，表(biao)面結(jie)構等(deng)。
測試原理
將預(yu)先處理好的薄(bo)型試樣的(de)壹面置(zhi)於下(xia)測量面上(shang)，與下(xia)測量面平(ping)行(xing)且(qie)中心對齊(qi)的(de)上測量面，以(yi)壹(yi)定(ding)的(de)壓(ya)力，落到(dao)薄(bo)型試樣的(de)另壹(yi)面上(shang)，同測量頭(tou)壹體(ti)的傳感(gan)器(qi)自動(dong)檢(jian)測(ce)出(chu)上(shang)下(xia)測量面之(zhi)間(jian)的(de)距(ju)離(li)，即為(wei)薄(bo)型試樣的(de)厚度(du)。
薄(bo)膜測(ce)厚(hou)儀操作方(fang)法介(jie)紹(shao)
根據國標中的要求(qiu)，對同壹張薄(bo)膜選取(qu)10個測(ce)試點，薄(bo)膜厚(hou)度(du)測量方(fang)法如(ru)下(xia)：
1、將兩(liang)個(ge)激(ji)光傳感(gan)器(qi)分(fen)裝在薄(bo)膜試樣的(de)上下(xia)方(fang)，把(ba)傳感(gan)器(qi)固(gu)定(ding)在(zai)支架上。
2、打(da)開儀器(qi)，設(she)置(zhi)參(can)數(shu)，放(fang)置(zhi)對比量塊(kuai)，點擊“確(que)認”。
3、取(qu)走(zou)滑(hua)塊(kuai)，重(zhong)新設(she)置(zhi)與步(bu)驟(zhou)（2）相同的參(can)數(shu)，放(fang)入(ru)薄(bo)膜試樣。
4、分(fen)別(bie)取(qu)10個不(bu)同的點，位置(zhi)盡(jin)量錯(cuo)開，避免(mian)因(yin)距(ju)離(li)太近(jin)影(ying)響數(shu)據。
5、測量值通(tong)過串口傳輸到(dao)計(ji)算(suan)機(ji)，再通過在計(ji)算(suan)機(ji)上的測厚(hou)軟(ruan)件進行(xing)處理，得(de)到(dao)目(mu)標(biao)的(de)厚(hou)度(du)值。
更(geng)多關(guan)於薄(bo)膜測(ce)厚(hou)儀可以(yi)關(guan)註我(wo)們的(de)網(wang)站，還(hai)有(you)什(shen)麽(me)想要了(le)解(jie)的(de)內容(rong)，可以(yi)給小(xiao)編留言告(gao)訴小(xiao)編哦(o)，小(xiao)編整理好內容(rong)，下(xia)期新聞再跟大(da)家(jia)見(jian)面！
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