真空衰(shuai)減(jian)法適(shi)用於無(wu)菌藥(yao)品容器完(wan)整(zheng)性(xing)測(ce)試(shi)

  真空衰(shuai)減(jian)法微泄漏(lou)無(wu)損(sun)密封測試(shi)儀(yi)依據《ASTM F2338-2013 包(bao)裝泄漏(lou)的標準(zhun)檢測方(fang)法-真空衰(shuai)減(jian)法》 標(biao)準(zhun)研發(fa)。 專(zhuan)業適(shi)用於各(ge)種空(kong)的/預充(chong)式(shi)註(zhu)射器、水(shui)針(zhen)及(ji)粉針(zhen)瓶(ping)（玻(bo)璃/塑料）、灌(guan)裝壓蓋瓶、其(qi)他(ta)硬質(zhi)包(bao)裝容器、電(dian)器元(yuan)件(jian)等(deng)試(shi)樣(yang)的 無(wu)損(sun)正(zheng)、負(fu)壓(ya)的微泄漏(lou)測試(shi)。本(ben)產(chan)品(pin)采(cai)用*的設計和嚴(yan)謹、科(ke)學的計算方(fang)法保(bao)證了(le)其(qi)快(kuai)速(su)測(ce)試(shi)和(he)高準(zhun)確度及(ji)高穩(wen)定(ding) 性(xing)。亦可滿(man)足(zu)用戶的非標(biao)準(zhun)（軟件或(huo)測試(shi)夾(jia)具(ju)）定(ding)制(zhi)。

  真空衰(shuai)減(jian)法作(zuo)為(wei)無(wu)損(sun)定(ding)量(liang)檢(jian)漏(lou)技(ji)術(shu)的代(dai)表(biao)，相(xiang)比傳統(tong)檢漏(lou)方(fang)法如(ru)染(ran)色法、微生物(wu)侵入(ru)法優(you)勢明顯；相(xiang)比其(qi)他(ta)的無(wu)損(sun)檢(jian)漏(lou)技(ji)術(shu)如(ru)激(ji)光(guang)法，適(shi)用範圍(wei)廣，符合(he)標準(zhun)多(duo)。 MLT-V100微泄露(lu)無(wu)損(sun)密封儀具(ju)有真空衰(shuai)減(jian)法的最高檢(jian)漏(lou)精度(du)≤1um，不(bu)僅適(shi)用於高(gao)、低(di)真空度(du)及(ji)常(chang)壓(ya)的包(bao)裝，也(ye)適(shi)用於固(gu)體(ti)、液(ye)體(ti)填充(chong)的包(bao)裝，非常(chang)適(shi)合(he)於制(zhi)藥(yao)行(xing)業的客戶使用。

與行(xing)業裏長(chang)用的的檢測(ce)方(fang)法對(dui)比：

染(ran)色法：Ø 破(po)壞(huai)性(xing)測(ce)試(shi) Ø 受多(duo)方(fang)面(mian)因素(su)影響 Ø 可能會(hui)出(chu)現(xian)假陽(yang)性(xing)結果

微生物(wu)侵入(ru)法：Ø 破(po)壞(huai)性(xing)測(ce)試(shi) Ø 泄漏(lou)通(tong)道為曲(qu)折路徑(jing)時(shi)漏(lou)檢率高 Ø 測試(shi)時(shi)間(jian)長(chang)，測(ce)試(shi)過(guo)程繁瑣(suo)

真空衰(shuai)減(jian)法:Ø 無(wu)損(sun)測(ce)試(shi)Ø 定(ding)量(liang)檢(jian)測Ø 測試(shi)時(shi)間(jian)短(duan)Ø 可以檢測(ce)高(gao)真空度(du)、低(di)真空度(du)和(he)常(chang)壓(ya)的包(bao)裝

Ø 可以檢測(ce)液(ye)體(ti)部(bu)分的完(wan)整(zheng)性(xing) Ø 可以直接(jie)檢(jian)測(ce)出(chu)泄漏(lou)率和漏(lou)孔(kong)大小(xiao)

Ø 同時(shi)符合(he)美國ASTM標(biao)準(zhun)和FDA要(yao)求Ø 封口(kou)前(qian)泄漏(lou)封口(kou)後(hou)完(wan)好(hao)的包(bao)裝可以檢出(chu)