偏(pian)光(guang)應力儀(yi)的(de)技術(shu)要(yao)求-山(shan)東(dong)普創工(gong)業(ye)科(ke)技有(you)限(xian)公司

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偏(pian)光(guang)應力儀(yi)的(de)技術(shu)要(yao)求

　　偏(pian)光(guang)應力儀(yi)壹般應用於(yu)制藥(yao)企業(ye)、玻(bo)璃制(zhi)品(pin)廠(chang)、塑料(liao)制(zhi)品(pin)廠(chang)、實(shi)驗(yan)室(shi)作(zuo)測(ce)量光(guang)學(xue)、玻(bo)璃制(zhi)品(pin)及其他光(guang)學(xue)材料的(de)應力值(zhi)，如：適(shi)合於(yu)檢(jian)測(ce)燈(deng)等有復雜(za)構(gou)造的(de)產品(pin)，檢(jian)測(ce)高(gao)密(mi)度(du)的(de)塑料(liao)產(chan)品(pin)，如隱(yin)形眼鏡(jing)，檢(jian)測(ce)光(guang)學(xue)晶體，如氟(fu)化鈣(gai)（螢石）等。

　　偏(pian)光(guang)應力儀(yi)應符(fu)合下(xia)列技術(shu)要(yao)求：在使(shi)用偏(pian)光(guang)原件和(he)保護(hu)件進行觀察時，光(guang)場(chang)邊沿的(de)亮(liang)度(du)不小於120cd/m2；所(suo)采(cai)用的(de)偏振原件應保證亮(liang)場(chang)時任何(he)壹(yi)點(dian)偏(pian)振度(du)都不(bu)小於99%；偏振場(chang)不(bu)小於85mm；在起偏鏡(jing)和(he)檢(jian)偏鏡(jing)之間分(fen)別(bie)置(zhi)入(ru)565nm的(de)全波片（靈敏色片）及(ji)四分之壹波(bo)片，波(bo)片的(de)慢軸與起偏鏡(jing)的(de)偏振平面成90°；檢(jian)偏鏡(jing)應安裝成(cheng)能相對於起偏鏡(jing)和(he)全波片或四(si)分之壹波(bo)片旋(xuan)轉(zhuan)，並且(qie)有(you)旋(xuan)轉(zhuan)角(jiao)度(du)的(de)測(ce)定(ding)裝置(zhi)（度(du)盤格(ge)值(zhi)為(wei)1°）。

　　測(ce)定(ding)法供試(shi)品(pin)應為(wei)退(tui)火後未經其他實(shi)驗(yan)的(de)產品(pin)，須預先(xian)在(zai)實(shi)驗(yan)室(shi)內(nei)溫度(du)條件下(xia)放置(zhi)30分(fen)鐘以上(shang)，測(ce)定(ding)時應戴(dai)手(shou)套，避(bi)免(mian)用(yong)手直接接(jie)觸(chu)供試(shi)品(pin)。

　　無色(se)供試(shi)品(pin)的(de)測(ce)定(ding)

　　無色(se)供試(shi)品(pin)底部的(de)檢(jian)驗：將(jiang)四(si)分之壹波(bo)片置(zhi)入(ru)視場(chang)，調(tiao)整偏(pian)光(guang)應力儀(yi)零點(dian)，使(shi)之呈暗(an)視場(chang)。把(ba)供試(shi)品(pin)放入(ru)視場(chang)，從(cong)口(kou)部觀察底部，這(zhe)時視場(chang)中(zhong)會出(chu)現(xian)暗(an)十字，如果供試(shi)品(pin)應力小，則(ze)這(zhe)個(ge)暗(an)十字便會(hui)模(mo)糊不清。旋(xuan)轉(zhuan)檢(jian)偏鏡(jing)，使(shi)暗(an)十字分離成兩(liang)個(ge)沿相(xiang)反方向(xiang)移動的(de)圓弧(hu)，隨著暗(an)區(qu)的(de)外移，在圓弧(hu)的(de)凹側(ce)便(bian)出(chu)現(xian)藍(lan)灰色，凸側(ce)便(bian)出(chu)現(xian)褐(he)色(se)。如測(ce)定(ding)某選(xuan)定(ding)點的(de)應力值(zhi)，則(ze)旋(xuan)轉(zhuan)檢(jian)偏鏡(jing)直至該(gai)點藍灰色剛好被褐(he)色(se)取(qu)代(dai)為(wei)止(zhi)。繞(rao)軸線(xian)旋(xuan)轉(zhuan)供試(shi)品(pin)，找(zhao)出(chu)大(da)應力點(dian)，旋(xuan)轉(zhuan)檢(jian)偏鏡(jing)，直至藍(lan)灰色被褐(he)色(se)取(qu)代(dai)，記(ji)錄(lu)此時的(de)檢(jian)偏鏡(jing)旋(xuan)轉(zhuan)角(jiao)度(du)，並測(ce)量該點(dian)的(de)厚度(du)。

　　無色(se)供試(shi)品(pin)側(ce)壁(bi)的(de)檢(jian)驗：將(jiang)四(si)分之壹波(bo)片置(zhi)入(ru)視場(chang)，調(tiao)整偏(pian)光(guang)應力儀(yi)零點(dian)，使(shi)之呈暗(an)視場(chang)。把(ba)供試(shi)品(pin)放入(ru)視場(chang)，使(shi)供試(shi)品(pin)的(de)軸線(xian)與偏(pian)振平面成45°，這時側(ce)壁(bi)上出(chu)現(xian)亮(liang)暗(an)不(bu)同的(de)區域(yu)。旋(xuan)轉(zhuan)檢(jian)偏鏡(jing)直至側(ce)壁(bi)上暗(an)區(qu)聚會，剛(gang)好*取(qu)代(dai)亮(liang)區為(wei)止(zhi)。繞(rao)軸線(xian)旋(xuan)轉(zhuan)供試(shi)品(pin)，借(jie)以確(que)定(ding)大(da)應力區(qu)記錄(lu)測(ce)得大(da)應力區(qu)的(de)檢(jian)偏鏡(jing)放置(zhi)角(jiao)度(du)，並分(fen)別(bie)測(ce)量兩(liang)側(ce)壁(bi)的(de)厚度(du)（記錄(lu)兩(liang)側(ce)壁(bi)壁(bi)厚之和(he)）。

　　有色(se)供試(shi)品(pin)的(de)測(ce)定(ding)

　　檢(jian)驗步(bu)驟與1相(xiang)同。當(dang)沒(mei)有(you)明(ming)顯(xian)的(de)藍色和(he)褐(he)色(se)以及(ji)玻(bo)璃透(tou)過率(lv)較(jiao)低(di)時，較難(nan)確定(ding)檢(jian)偏鏡(jing)的(de)旋(xuan)轉(zhuan)終點(dian)，深(shen)色(se)供試(shi)品(pin)尤為(wei)嚴(yan)重，這(zhe)時可以采(cai)用平均的(de)方法(fa)來確定(ding)準確(que)的(de)終點。即(ji)以暗(an)區(qu)取(qu)代(dai)亮(liang)區的(de)旋(xuan)轉(zhuan)角(jiao)度(du)與再(zai)使(shi)亮(liang)區剛(gang)好重新(xin)出(chu)現(xian)的(de)總旋(xuan)轉(zhuan)角(jiao)度(du)之和(he)的(de)平均值(zhi)表(biao)示。