偏(pian)光應力儀使用方(fang)法(fa)

　　偏(pian)光應力儀使用方(fang)法(fa)：

　　（壹）定性(xing)測(ce)量(liang)

　　（1）接(jie)通(tong)電(dian)源(yuan)撥動(dong)開(kai)關推(tui)向(xiang)定性(xing)測(ce)量(liang)檔(dang)

　　（2）將(jiang)檢(jian)偏(pian)振片(pian)手(shou)輪旋(xuan)轉(zhuan)到(dao)零(ling)位(wei)刻(ke)度

　　（3）將(jiang)上(shang)，下(xia)推(tui)拉(la)桿，上(shang)推(tui)拉(la)桿拉出，下(xia)推(tui)拉(la)桿推(tui)進(jin)使全(quan)波(bo)片(pian)置(zhi)入到(dao)光路之中(zhong)，視場(chang)的(de)顏色(se)是(shi)紫(zi)紅色(se)，

　　（4）試件(jian)置入到(dao)幹涉(she)場視(shi)場中(zhong)，通(tong)過檢偏(pian)鏡觀(guan)察被測試(shi)件表(biao)面(mian)，根據幹涉(she)色(se)定性(xing)地(di)判斷(duan)退火(huo)質量(liang)（測(ce)件(jian)質(zhi)量(liang)）如(ru)果視測(ce)試(shi)件放(fang)入光路中旋(xuan)轉(zhuan)測(ce)件後視場(chang)的(de)顏色(se)基本(ben)不(bu)變，仍(reng)為(wei)紫(zi)紅(hong)色(se)或者(zhe)只輕微(wei)變化(hua)，（由(you)暗(an)紅到(dao)紫紅(hong)）說明(ming)退質(zhi)量(liang)良(liang)好，如(ru)果試件(jian)某(mou)些部(bu)位(wei)，旋(xuan)轉(zhuan)測(ce)件，幹涉色(se)變化(hua)較大(da)（例如(ru)出現綠色(se)或黃(huang)色(se)）說明(ming)退火(huo)質量(liang)差。

　　（二）定量(liang)測(ce)量(liang)

　　（1）接(jie)通(tong)電(dian)源(yuan)，將撥動(dong)開(kai)關推(tui)向(xiang)定量(liang)測(ce)量(liang)檔(dang)，

　　（2）將(jiang)檢(jian)偏(pian)鏡振片(pian)手(shou)輪旋(xuan)轉(zhuan)到(dao)零(ling)位(wei)刻(ke)度。

　　（3）將(jiang)上(shang)，下(xia)推(tui)拉(la)桿，上(shang)推(tui)拉(la)桿推(tui)進(jin)下(xia)推(tui)拉(la)桿拉出使1/4 波(bo)片(pian)置(zhi)入到(dao)光路中視(shi)場是(shi)暗(an)視場

　　（4）將被測試(shi)樣放(fang)在(zai)工作臺上(shang)旋(xuan)轉(zhuan)試(shi)件，如(ru)果旋(xuan)轉(zhuan)大(da)於45°被測件(jian)仍為(wei)暗(an)視(shi)場則為(wei)無(wu)應(ying)力。

　　如(ru)果旋(xuan)轉(zhuan)測(ce)件出現發亮部(bu)分(fen)，即為(wei)被測試(shi)件有(you)應(ying)力，zui亮(liang)部(bu)位(wei)是(shi)應(ying)力zui大，旋(xuan)轉(zhuan)視(shi)場中被測部(bu)位(wei)（即(ji)zui亮部位(wei)）成(cheng)為(wei)暗(an)視(shi)場，然後將載物臺(tai)旋(xuan)轉(zhuan)45°再(zai)轉(zhuan)動(dong)檢偏(pian)鏡手輪(lun)使視(shi)場(chang)中測(ce)件的(de)被測部(bu)位(wei)（亮(liang)的(de)部位(wei)）成(cheng)暗視場讀(du)出檢偏(pian)振度(du)盤(pan)值為(wei)度(du)再(zai)乘(cheng)3.27 即(ji)為(wei)被測件(jian)的(de)應力(li)，單位(wei)nm(納米)，測定應(ying)力(li)角，每度(du)相當於3.27nm 的(de)光程(cheng)差，量(liang)取測件的(de)厚(hou)度(du)即可計算(suan)出單位(wei)厚(hou)度(du)的(de)程(cheng)差值。