金(jin)屬塗(tu)層(ceng)測厚(hou)儀(yi)的(de)測試(shi)註意(yi)事(shi)項(xiang)

金(jin)屬塗(tu)層(ceng)測厚(hou)儀(yi)的(de)測試(shi)方(fang)法(fa)主(zhu)要(yao)有：磁(ci)性(xing)測(ce)厚(hou)法(fa)，放射測厚(hou)法(fa)，電解(jie)測(ce)厚法(fa)，渦流測(ce)厚(hou)法(fa)，超(chao)聲波測厚法(fa)。測試(shi)過(guo)程應(ying)註(zhu)意(yi)幾點：

⒈在(zai)進(jin)行測(ce)試的(de)時候要註意(yi)標準(zhun)片(pian)集(ji)體(ti)的(de)金(jin)屬磁(ci)性(xing)和表(biao)面粗糙(cao)度(du)應(ying)當(dang)與(yu)試(shi)件(jian)相似(si)。

⒉測(ce)量(liang)時(shi)側(ce)頭(tou)與(yu)試(shi)樣(yang)表面(mian)保(bao)持垂(chui)直(zhi)。

⒊測量(liang)時要(yao)註(zhu)意(yi)基(ji)體金(jin)屬的(de)臨界(jie)厚(hou)度(du)，如果(guo)大於這(zhe)個厚度(du)測(ce)量就不(bu)受(shou)基(ji)體金(jin)屬厚(hou)度(du)的(de)影響。

⒋測量時要(yao)註(zhu)意(yi)試件(jian)的(de)曲率(lv)對(dui)測(ce)量(liang)的(de)影響。因此(ci)在(zai)彎曲(qu)的(de)試件(jian)表面(mian)上測量時不(bu)可(ke)靠(kao)的(de)。

⒌測量(liang)前(qian)要(yao)註(zhu)意(yi)周圍其他的(de)電器設備(bei)會(hui)不(bu)會(hui)產(chan)生(sheng)磁(ci)場(chang)，如果(guo)會將(jiang)會幹擾磁(ci)性(xing)測厚(hou)法(fa)。

⒍測量(liang)時(shi)要(yao)註意(yi)不(bu)要(yao)在(zai)內(nei)轉角(jiao)處和(he)靠近(jin)試件(jian)邊緣(yuan)處測量，因為壹般(ban)的(de)測厚(hou)儀(yi)試(shi)件(jian)表面(mian)形狀的(de)忽然(ran)變化很(hen)敏感(gan)。

⒎在測(ce)量(liang)時(shi)要保(bao)持壓(ya)力的(de)恒定(ding)，否(fou)則會(hui)影響測量的(de)讀(du)數。

⒏在進(jin)行測(ce)試的(de)時候要註意(yi)儀(yi)器測頭(tou)和被測試(shi)件(jian)的(de)要直(zhi)接接觸，因(yin)此(ci)超(chao)聲波測厚儀(yi)在(zai)進(jin)行對(dui)側(ce)頭(tou)清除(chu)附(fu)著(zhe)物質(zhi)。

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